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SEM

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SEM

  • 品 牌

    德国 Zeiss

    型 号

    EVO18

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        陕西 西安

      • 价 格

        400

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仪器简介

标配能谱仪(EDS)和波谱仪(WDS)接口,领先的 X 射线几何条件对所 有样品提供了最精确的分析。对于非导体采用电子束衬管技术也提高了图像质量和分析精度。可选择 LaB6 高亮度光源,在与 X 射线分析相适应的探针 电流的性能上提高到一个新 的水平。在 8.5 mm 的分析工作距离,EVO® 18 能够处理的 样品可达 250 mm 直径和 145mm 高。此外,共面的设计为 EBSD 与 EDS 的联合使用提 供了理想的几何条件。无论何时对于你的材料分析的挑战,EVO® 18 都能使你的 样品清晰可见

仪器参数
成像方案: 导体 非导体 气体析出样品
分辨率: 3.0 nm @ 30 kV (SE 与 W)
2.0 nm @ 30 kV (SE 带有 )
4.5 nm @ 30 kV (VP 模式 - BSD 或 SE)
加速电压:0.2 - 30 kV
放大倍数: 5 - 1,000,000 x
视野: 6 mm 在分析工作距离(AWD)
X 射线分析: 8.5 mm AWD,35°出射角


检测项目

1.形貌分析,用于金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织微观区域形貌像的观察

2.微区成分分析,通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析


结果示例

SEM 结果.jpg

仪器简介

标配能谱仪(EDS)和波谱仪(WDS)接口,领先的 X 射线几何条件对所 有样品提供了最精确的分析。对于非导体采用电子束衬管技术也提高了图像质量和分析精度。可选择 LaB6 高亮度光源,在与 X 射线分析相适应的探针 电流的性能上提高到一个新 的水平。在 8.5 mm 的分析工作距离,EVO® 18 能够处理的 样品可达 250 mm 直径和 145mm 高。此外,共面的设计为 EBSD 与 EDS 的联合使用提 供了理想的几何条件。无论何时对于你的材料分析的挑战,EVO® 18 都能使你的 样品清晰可见

仪器参数
成像方案: 导体 非导体 气体析出样品
分辨率: 3.0 nm @ 30 kV (SE 与 W)
2.0 nm @ 30 kV (SE 带有 )
4.5 nm @ 30 kV (VP 模式 - BSD 或 SE)
加速电压:0.2 - 30 kV
放大倍数: 5 - 1,000,000 x
视野: 6 mm 在分析工作距离(AWD)
X 射线分析: 8.5 mm AWD,35°出射角


测试项目

1.形貌分析,用于金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织微观区域形貌像的观察

2.微区成分分析,通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析


结果实例

SEM 结果.jpg

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