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电子合同
AFM原子力显微镜
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品 牌
Bruker
型 号Dimension 3100
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模 式
-
选 项
- 地 址
陕西 西安
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价 格
面议
- 联系人：易科学客服
- 联系电话：400-086-3999 转 801
-
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- 详细介绍
仪器简介
Dimension 3100 SPM使用自动化的原子力显微镜和扫描隧道显微镜技术，可用来测量直径可达200毫米的半导体硅片、刻蚀掩膜、磁介质、CD/DVD、生物材料、光学材料和其它样品的表面特性。它的激光点定位系统和无需工具改变扫描技术的能力保证了仪器的适用性、易操作性和高的数据处理能力。
仪器参数
磁畴探测精度： 10nm；
水平方向分辨率： 0.2nm；
垂直方向分辨率： 0.03nm；
X-Y 向扫描范围： 12μm×12μm， 40μm×40μm， 90μm×90μm；
X-Y向噪声水平： < 0.15 nm RMS；
试样温度范围： -35℃～250℃；
检测项目
Contact mode（接触模式），Tapping mode（轻敲模式），MFM（磁力显微镜），表面形貌图像，三维尺度测量，粗糙度分析，台阶高度/角度，电磁学分析, 力学分析, 热学分析.
样品要求
结果示例
仪器简介
Dimension 3100 SPM使用自动化的原子力显微镜和扫描隧道显微镜技术，可用来测量直径可达200毫米的半导体硅片、刻蚀掩膜、磁介质、CD/DVD、生物材料、光学材料和其它样品的表面特性。它的激光点定位系统和无需工具改变扫描技术的能力保证了仪器的适用性、易操作性和高的数据处理能力。
仪器参数
磁畴探测精度： 10nm；
水平方向分辨率： 0.2nm；
垂直方向分辨率： 0.03nm；
X-Y 向扫描范围： 12μm×12μm， 40μm×40μm， 90μm×90μm；
X-Y向噪声水平： < 0.15 nm RMS；
试样温度范围： -35℃～250℃；
测试项目
Contact mode（接触模式），Tapping mode（轻敲模式），MFM（磁力显微镜），表面形貌图像，三维尺度测量，粗糙度分析，台阶高度/角度，电磁学分析, 力学分析, 热学分析.
样品要求
电子电气，光电材料，镀膜材料，生物材料，聚合物，半导体等产品
结果实例
相关附件
AFM结果.jpg易科学优势
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