共焦显微拉曼光谱仪
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品 牌
雷尼绍
型 号inVia Reflex
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模 式
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选 项
- 地 址
北京
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价 格
200
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选 项
- 地 址
北京
-
价 格
520.00元/小时
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开 放
时 间
- 联系人:易科学客服
- 联系电话:400-086-3999 转 801
-
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- 详细介绍
仪器简介
仪器品牌及型号:
英国雷尼绍 inVia Reflex
性能参数:
拉曼频移范围:514 nm激发100~8000 cm-1;
633 nm激发120~5500 cm-1;
785 nm激发120~3200 cm-1 ;
高灵敏度:单晶硅第三阶拉曼信号的信号高度与光谱基线噪音幅度之比高于20:1;
稳定性:< 0.06 cm-1 RMS;
分辨率:< 1.5 cm-1;
检测器:高灵敏度近红外增强Deep Depletion CCD探测器;
主要功能和用途:
半导体工业及材料学中对应变、应力,表面损伤,沾污以及掺杂的分析,并可进行逐点扫描或线/面的快速扫描成像;纳米领域以及高分子材料学中材料的构相、结构、特征的分析;医药、有机及生物领域对药品或混合物的成份、空间分布分析,质量检验、控制;快速、准确的宝石鉴定,无损伤分析宝石内杂质(小至微米尺度)及地质矿物成份分析;公安与法学中无损分析爆炸物、汽车喷漆、毒品、纤维、文件材料;计算机硬盘产业中类金刚石镀膜的磨损度测量,应力分析,质量控制等。
样品要求
仪器简介
仪器品牌及型号:
英国雷尼绍 inVia Reflex
性能参数:
拉曼频移范围:514 nm激发100~8000 cm-1;
633 nm激发120~5500 cm-1;
785 nm激发120~3200 cm-1 ;
高灵敏度:单晶硅第三阶拉曼信号的信号高度与光谱基线噪音幅度之比高于20:1;
稳定性:< 0.06 cm-1 RMS;
分辨率:< 1.5 cm-1;
检测器:高灵敏度近红外增强Deep Depletion CCD探测器;
主要功能和用途:
半导体工业及材料学中对应变、应力,表面损伤,沾污以及掺杂的分析,并可进行逐点扫描或线/面的快速扫描成像;纳米领域以及高分子材料学中材料的构相、结构、特征的分析;医药、有机及生物领域对药品或混合物的成份、空间分布分析,质量检验、控制;快速、准确的宝石鉴定,无损伤分析宝石内杂质(小至微米尺度)及地质矿物成份分析;公安与法学中无损分析爆炸物、汽车喷漆、毒品、纤维、文件材料;计算机硬盘产业中类金刚石镀膜的磨损度测量,应力分析,质量控制等。
样品要求
液体样品:最好是纯液体,或者是浓度尽量高的溶液,但要求所使用的溶剂不易挥发、无毒、无腐蚀性。
固体样品:在不影响样品结构的前提下最好是研磨得越细越好,颗粒越小越好。
薄膜:薄膜或片状样品可以直接测试,厚度小于1cm。