球差校正透射电子显微镜(TEM)
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品 牌
JEOL
型 号JEM-ARM200F
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模 式
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选 项
- 地 址
北京
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价 格
3500
- 联系人:易科学客服
- 联系电话:400-086-3999 转 801
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- 详细介绍
仪器简介
仪器设备厂商及型号:
JEOL JEM-ARM200F
性能参数:
JEM-ARM200F是一台具有亚埃分辨率的扫描透射电子显微镜,配备有电子束球差校正系统、X-射线能谱仪和电子能量损失谱仪。可同时进行原子分辨率的成像和化学份分析。
扫描透射模式分辨率:暗场像 0.08 nm 明场像 0.14 nm
透射模式分辨率:点分辨率 0.19 nm 信息分辨率 0.10 nm
放大倍率:扫描透射模式 100 to 150,000,000X 透射模式 50 to 2,000,000X
光斑尺寸:最小直径0.10nm
样品台 全对中侧插式测角台
样品尺寸 直径3mm
样品倾斜角 最大25°(使用双倾台)
移动范围 X/Y:±1.0mm(马达驱动)
样品要求
仪器简介
仪器设备厂商及型号:
JEOL JEM-ARM200F
性能参数:
JEM-ARM200F是一台具有亚埃分辨率的扫描透射电子显微镜,配备有电子束球差校正系统、X-射线能谱仪和电子能量损失谱仪。可同时进行原子分辨率的成像和化学份分析。
扫描透射模式分辨率:暗场像 0.08 nm 明场像 0.14 nm
透射模式分辨率:点分辨率 0.19 nm 信息分辨率 0.10 nm
放大倍率:扫描透射模式 100 to 150,000,000X 透射模式 50 to 2,000,000X
光斑尺寸:最小直径0.10nm
样品台 全对中侧插式测角台
样品尺寸 直径3mm
样品倾斜角 最大25°(使用双倾台)
移动范围 X/Y:±1.0mm(马达驱动)
样品要求
样品尺寸:透射电镜能够观察200nm以下的样品;块体样品,要求样品大小为直径3mm的圆,厚度为200nm以下。
样品状态:对于粉末和液体样品,要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥。