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球差校正透射电子显微镜(TEM)

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球差校正透射电子显微镜(TEM)

  • 品 牌

    JEOL

    型 号

    JEM-ARM200F

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        北京

      • 价 格

        3500

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  • 详细介绍
仪器简介

仪器设备厂商及型号:
JEOL  JEM-ARM200F


性能参数:

JEM-ARM200F是一台具有亚埃分辨率的扫描透射电子显微镜,配备有电子束球差校正系统、X-射线能谱仪和电子能量损失谱仪。可同时进行原子分辨率的成像和化学份分析。

扫描透射模式分辨率:暗场像 0.08 nm  明场像 0.14 nm

透射模式分辨率:点分辨率 0.19 nm 信息分辨率 0.10 nm

放大倍率:扫描透射模式 100 to 150,000,000X  透射模式 50 to 2,000,000X

光斑尺寸:最小直径0.10nm  

样品台 全对中侧插式测角台

样品尺寸 直径3mm

样品倾斜角 最大25°(使用双倾台)

移动范围 X/Y:±1.0mm(马达驱动)                                     

样品要求
仪器简介

仪器设备厂商及型号:
JEOL  JEM-ARM200F


性能参数:

JEM-ARM200F是一台具有亚埃分辨率的扫描透射电子显微镜,配备有电子束球差校正系统、X-射线能谱仪和电子能量损失谱仪。可同时进行原子分辨率的成像和化学份分析。

扫描透射模式分辨率:暗场像 0.08 nm  明场像 0.14 nm

透射模式分辨率:点分辨率 0.19 nm 信息分辨率 0.10 nm

放大倍率:扫描透射模式 100 to 150,000,000X  透射模式 50 to 2,000,000X

光斑尺寸:最小直径0.10nm  

样品台 全对中侧插式测角台

样品尺寸 直径3mm

样品倾斜角 最大25°(使用双倾台)

移动范围 X/Y:±1.0mm(马达驱动)                                     

样品要求

样品尺寸:透射电镜能够观察200nm以下的样品;块体样品,要求样品大小为直径3mm的圆,厚度为200nm以下。

样品状态:对于粉末和液体样品,要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥。

 


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