场发射扫描电子显微镜(冷场)SEM
-
品 牌
HITACHI
型 号S-4700
-
模 式
-
选 项
- 地 址
北京
-
价 格
250
- 联系人:易科学客服
- 联系电话:400-086-3999 转 801
-
*联系我时请说明是在易科学看到的,谢谢!
- 详细介绍
仪器简介
仪器设备厂商及型号:
HITACHI S-4700
性能参数:
冷场发射电子枪;
二次电子像分辨率:1.5 nm(15 kV);
2.1 nm(1 kV) ;
最大放大倍数约50万;
X射线能谱元素分析范围B5-U92;
分辨率129.25eV。
主要功能和用途:
可以观察和检测非均相有机、无机材料,及这些材料在纳米、微米级样品的表面特征。该仪器广泛应用于金属材料、高分子材料、半导体材料、化工原料、地矿物品、宝石文物等微观形貌的研究及公安刑侦的物证分析。
样品要求
仪器简介
仪器设备厂商及型号:
HITACHI S-4700
性能参数:
冷场发射电子枪;
二次电子像分辨率:1.5 nm(15 kV);
2.1 nm(1 kV) ;
最大放大倍数约50万;
X射线能谱元素分析范围B5-U92;
分辨率129.25eV。
主要功能和用途:
可以观察和检测非均相有机、无机材料,及这些材料在纳米、微米级样品的表面特征。该仪器广泛应用于金属材料、高分子材料、半导体材料、化工原料、地矿物品、宝石文物等微观形貌的研究及公安刑侦的物证分析。
样品要求
样品形态:送检样品必须为干燥固体、块状、片状、纤维状及粉末状均可
样品尺寸:样品高度小于15mm,直径小于30mm
特殊要求:样品应具有导电性。若样品不导电,需要进行喷金、碳等导电膜的处理;样品中不得含有水分,多孔类或易潮解的样品,请提前真空干燥处理。