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场发射扫描电子显微镜(冷场)SEM

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场发射扫描电子显微镜(冷场)SEM

  • 品 牌

    HITACHI

    型 号

    S-4700

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        北京

      • 价 格

        250

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  • 详细介绍
仪器简介

仪器设备厂商及型号:
HITACHI S-4700


性能参数:
冷场发射电子枪;
二次电子像分辨率:1.5 nm(15 kV);
2.1 nm(1 kV) ;

最大放大倍数约50万;

X射线能谱元素分析范围B5-U92;

分辨率129.25eV


主要功能和用途:
可以观察和检测非均相有机、无机材料,及这些材料在纳米、微米级样品的表面特征。该仪器广泛应用于金属材料、高分子材料、半导体材料、化工原料、地矿物品、宝石文物等微观形貌的研究及公安刑侦的物证分析。

 


样品要求
仪器简介

仪器设备厂商及型号:
HITACHI S-4700


性能参数:
冷场发射电子枪;
二次电子像分辨率:1.5 nm(15 kV);
2.1 nm(1 kV) ;

最大放大倍数约50万;

X射线能谱元素分析范围B5-U92;

分辨率129.25eV


主要功能和用途:
可以观察和检测非均相有机、无机材料,及这些材料在纳米、微米级样品的表面特征。该仪器广泛应用于金属材料、高分子材料、半导体材料、化工原料、地矿物品、宝石文物等微观形貌的研究及公安刑侦的物证分析。

 


样品要求

样品形态:送检样品必须为干燥固体、块状、片状、纤维状及粉末状均可

样品尺寸:样品高度小于15mm,直径小于30mm

特殊要求:样品应具有导电性。若样品不导电,需要进行喷金、碳等导电膜的处理;样品中不得含有水分,多孔类或易潮解的样品,请提前真空干燥处理。

 


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