本服务提供
发票
报价单
电子合同
聚焦离子束（FIB）天津（委托/现场）
-
品 牌
德国 Zeiss
型 号Crossbeam 540
-
模 式
-
选 项
- 地 址
北京
-
价 格
4000
- 联系人：易科学客服
- 联系电话：400-086-3999 转 801
-
*联系我时请说明是在易科学看到的，谢谢！
- 详细介绍
仪器简介
Crossbeam 540聚焦离子束（FIB）系统采用液态镓离子源。加速电压30kV下分辨率可达3nm。同时配有五支气体注入系统，及透射电镜样品制备用机械手。该系统可适用于横截面和断层扫描，3D分析，TEM样品制备及纳米图形加工。
仪器参数
1.电子光学
加速电压：0.02-30kV；放大倍数:12x-2000000x；探针电流:10pA-40nA；加速电压：0.02-30kV；分辨率：3nm@20kV；工作范围：1-50mm。
2.聚焦离子束镜筒
离子源：Ga+；FIB分辨率：3nm@30kV；放大倍数：300x-500000x
检测项目
横截面和断层扫描，3D分析，TEM样品制备及纳米图形加工
样品要求
结果示例
仪器简介
Crossbeam 540聚焦离子束（FIB）系统采用液态镓离子源。加速电压30kV下分辨率可达3nm。同时配有五支气体注入系统，及透射电镜样品制备用机械手。该系统可适用于横截面和断层扫描，3D分析，TEM样品制备及纳米图形加工。
仪器参数
1.电子光学
加速电压：0.02-30kV；放大倍数:12x-2000000x；探针电流:10pA-40nA；加速电压：0.02-30kV；分辨率：3nm@20kV；工作范围：1-50mm。
2.聚焦离子束镜筒
离子源：Ga+；FIB分辨率：3nm@30kV；放大倍数：300x-500000x
测试项目
横截面和断层扫描，3D分析，TEM样品制备及纳米图形加工
样品要求
非磁性样品，具体样品提前沟通
结果实例
FIB制样相关信息
问：FIB制作的样品在TEM中观察衬度比较暗可能导致的原因有哪些？
答：可能是样品本身比较厚或者制样时表面存在非晶层， FIB加工时的能量很高，稍不注意就会在样品表面形成非晶区域。
问：为什么不做磁性样品？
答：因为仪器内部存在电磁场，FIB加工过程中产生的碎屑如果有磁性，可能会残留在设备内部，损害仪器。
问：为什么建议FIB制样和TEM建议选择同一家实验室？
答：FIB制样前需充分沟通TEM观察需求，严格按照需求去加工制样，存在表述不清非常容易引起实验不畅。
易科学优势
QQ在线客服
项老师
13810666492
更多问题扫码咨询
