首页>仪器列表>SEM.EDS,Mapping场发射扫描电镜SEM（山东委托测试）
本服务提供
发票
报价单
电子合同
SEM.EDS,Mapping场发射扫描电镜SEM（山东委托测试）
-
品 牌
OPTON NTS LIMITED
型 号MERLINCompact
-
模 式
-
选 项
- 地 址
北京
-
价 格
130
- 联系人：易科学客服
- 联系电话：400-086-3999 转 801
-
*联系我时请说明是在易科学看到的，谢谢！
- 详细介绍
仪器简介
服务简介
SEM二次电子可以看颗粒形貌，大小，分布。背散射可以看元素分布，相分布，夹杂。配备EDS可以做定性和定量成分测量。截面元素分布，点扫描，线扫描，面扫描。
仪器参数
二次电子分辨率：0.8nm（15KV），1.6nm（1KV）；
背散射电子分辨率：2.0nm（15KV）；
放大倍数：12X~200,000X；
可分析元素：5(B)－92(U)；5(B)-11(Na)定性分析，定量存在误差；
检测项目
1.形貌分析，通过形貌像可以对样品的形貌、粒径、分散性进行表征，可用于金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织形貌像的观 察，同时还可对材料断口和失效进行分析
2.微区成分分析，通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析，可确定样品的组成
样品要求
结果示例
仪器简介
服务简介
SEM二次电子可以看颗粒形貌，大小，分布。背散射可以看元素分布，相分布，夹杂。配备EDS可以做定性和定量成分测量。截面元素分布，点扫描，线扫描，面扫描。
仪器参数
二次电子分辨率：0.8nm（15KV），1.6nm（1KV）；
背散射电子分辨率：2.0nm（15KV）；
放大倍数：12X~200,000X；
可分析元素：5(B)－92(U)；5(B)-11(Na)定性分析，定量存在误差；
测试项目
1.形貌分析，通过形貌像可以对样品的形貌、粒径、分散性进行表征，可用于金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织形貌像的观 察，同时还可对材料断口和失效进行分析
2.微区成分分析，通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析，可确定样品的组成
样品要求
1）SEM、EDS块状样品：标准样品尺寸长宽不超过10mm，高不超过150mm；最大可放样品尺寸长宽不超过45mm，高不超过150mm；
2）EBSD块状样品：样品尺寸长宽高不超过10mm；
3）粉末最少50mg；
4）薄膜最少200mm*200mm。
结果实例
SEM常见问题解答
问：不导电或导电差的样品，为什么要喷金？
答：SEM成像，是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号。如样品不导电或导电性不好，会造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走，一定程度后就反复出现充电放电现象（charging)，最终影响电子信号的传递，造成图像扭曲，变形、晃动等现象，喷金后样品表面导电增强，从而避免积电现象。
问：喷金后，对样品形貌是否有影响？
答：样品表面喷金后，只是在其表面覆盖了几个到十几个金原子层，厚度只有几个纳米到十几个纳米而已，对于看形貌来说，几乎是没有什么影响的。
问：一个样品会提供几张图片？
答：每样品提供6-8张左右，具体根据样品的拍摄情况而定。
易科学优势
QQ在线客服
项老师
13810666492
更多问题扫码咨询
