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热场发射扫描电子显微镜及智能能谱与电子背散射衍射（EBSD）一体化系统
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品 牌
日本电子（JEOL）
型 号JSM-7900F
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模 式
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仪器简介
主要用途：用于新材料、高纯物质表面微区形貌分析、材料断口形貌与其内部结构分析及夹杂物分析、固体样品表面微区成分的定性和半定量分析、微粒或纤维形状观察及其尺寸分析等。
仪器简介
主要用途：用于新材料、高纯物质表面微区形貌分析、材料断口形貌与其内部结构分析及夹杂物分析、固体样品表面微区成分的定性和半定量分析、微粒或纤维形状观察及其尺寸分析等。
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