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冷场发射扫描电子显微镜(SEM+EDS)

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冷场发射扫描电子显微镜(SEM+EDS)

  • 品 牌

    Hitachi(日立)

    型 号

    SU8010

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        山东 淄博

      • 价 格

        130

    • 选 项

      • 地 址

        山东 淄博

      • 价 格

        400.00元/小时

      • 开 放
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  • 详细介绍
仪器简介

技术指标:

分辨率:0.3nm;加速电压:0.1 ~ 30kV 0.1KV);具有高位和低位二次电子探测器;样品台驱动:3轴马达驱动(包含 两轴手动);物镜光阑: 4孔可调式,内置加热自清洁装置

    主要配置:能谱仪(EDS);离子溅射仪(Au-Pd 靶)等


检测项目

主要用途:用于生物类、有机和无机材料类等样品的微观形貌结构的研究,通过观察微观形貌以及元素的含量来控制样品的质量。


样品要求
仪器简介

技术指标:

分辨率:0.3nm;加速电压:0.1 ~ 30kV 0.1KV);具有高位和低位二次电子探测器;样品台驱动:3轴马达驱动(包含 两轴手动);物镜光阑: 4孔可调式,内置加热自清洁装置

    主要配置:能谱仪(EDS);离子溅射仪(Au-Pd 靶)等


测试项目

主要用途:用于生物类、有机和无机材料类等样品的微观形貌结构的研究,通过观察微观形貌以及元素的含量来控制样品的质量。


样品要求

1.粉末、液体、薄膜、块体均可。

2.尺寸要求:块体样品高度小于1厘米

3.特殊说明:粉末样品需不带磁性;可做块状磁性样品形貌观察,不进行能谱分析。


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