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单晶X射线衍射仪

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单晶X射线衍射仪

  • 品 牌

    Bruker

    型 号

    APEXII

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        浙江 杭州

      • 价 格

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  • 详细介绍
仪器简介

可以精确测定无机材料等小分子单晶颗粒物质的晶体结构特征,如结晶物质的三维空间结构(包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度等),分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构。系统配置包括高灵敏度CCD探测器、高稳定性X射线发生器、长寿命X光管、测角仪、计算机控制系统以及控制、数据收集和分析处理软件等。本仪器可在材料、物理、化学、化工等学科实现共享。


仪器参数

X射线发生器:Mo靶,高频技术,600W

管电压:20kV50kV;管电流:2mA15mA

稳定性: ±0.01%

敏感度:21电子/像素/光子(Mo-Kα)

暗电流:0.1 电子/

/

探测器:CCD 7. 探测面积:≥Φ75mm

像素尺寸:73.2μm/146.4μm

像素点数:1024x1024/512x512

读取时间:2.24sec/0.56sec

电脑系统:CPU: Pentium IV 3.0GHz;WindowsXP; 硬盘≥160.0GB; 内存≥2GB; 19" LCD; DVD-RW; Laser Printer


检测项目

材料、物理、化学、化工等学科


样品要求
仪器简介

可以精确测定无机材料等小分子单晶颗粒物质的晶体结构特征,如结晶物质的三维空间结构(包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度等),分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构。系统配置包括高灵敏度CCD探测器、高稳定性X射线发生器、长寿命X光管、测角仪、计算机控制系统以及控制、数据收集和分析处理软件等。本仪器可在材料、物理、化学、化工等学科实现共享。


仪器参数

X射线发生器:Mo靶,高频技术,600W

管电压:20kV50kV;管电流:2mA15mA

稳定性: ±0.01%

敏感度:21电子/像素/光子(Mo-Kα)

暗电流:0.1 电子/

/

探测器:CCD 7. 探测面积:≥Φ75mm

像素尺寸:73.2μm/146.4μm

像素点数:1024x1024/512x512

读取时间:2.24sec/0.56sec

电脑系统:CPU: Pentium IV 3.0GHz;WindowsXP; 硬盘≥160.0GB; 内存≥2GB; 19" LCD; DVD-RW; Laser Printer


测试项目

材料、物理、化学、化工等学科


样品要求

样品量:  ≥200mg

 

1.粉末样品约0.2g (影响因素:密度,衍射能力)

2.块状样品  近似平面面积<45PX *45PX

3.薄膜样品  近似平面面积<45PX *45PX    有一定厚度


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