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X射线衍射仪(XRD)
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品 牌
UItima-IV-185
型 号UItima-IV-185
-
模 式
-
选 项
- 地 址
北京
-
价 格
30
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仪器简介
材料晶型测定，晶面间距确定，晶面确定以及半定量分析。 测试精度 对Si（220）=47.2640±0.04°
Si（511）=94.9278±0.04°
Si（620）=127.5376±0.04°
仪器简介
材料晶型测定，晶面间距确定，晶面确定以及半定量分析。 测试精度 对Si（220）=47.2640±0.04°
Si（511）=94.9278±0.04°
Si（620）=127.5376±0.04°
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