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XRF  X射线荧光光谱测试   元素分析

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XRF X射线荧光光谱测试 元素分析

  • 品 牌

    SHIMADZU岛津

    型 号

    XRF-1800

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        上海

      • 价 格

        100

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仪器简介

XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X—Ray Fluorescence),而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中,有效的元素测量范围为9号元素 (F)到92号元素(U)。

仪器参数

从主元素到杂质元素,可同时无损分析36种元素。(分析范围:4Be,5B,6C~92U)

配置4kW(薄窗)的X射线管,提高X光源功率。

岛津多道X射线荧光光谱仪MXF-2400是升级型的多道型X射线荧光光谱仪。

岛津XRF检测仪原理新设计的硬件以及配备丰富软件数据处理装置,全自动进行分析数据的管理,非常适合工程管理、研究使用。

可同时分析36种元素,再加上单道扫描型分光器可同时处理48种元素,实现了传统X射线荧光装置难以做到的数ppm级的高灵敏度、高精度分析。

检测项目

元素分析

样品要求
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仪器简介

XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X—Ray Fluorescence),而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中,有效的元素测量范围为9号元素 (F)到92号元素(U)。

仪器参数

从主元素到杂质元素,可同时无损分析36种元素。(分析范围:4Be,5B,6C~92U)

配置4kW(薄窗)的X射线管,提高X光源功率。

岛津多道X射线荧光光谱仪MXF-2400是升级型的多道型X射线荧光光谱仪。

岛津XRF检测仪原理新设计的硬件以及配备丰富软件数据处理装置,全自动进行分析数据的管理,非常适合工程管理、研究使用。

可同时分析36种元素,再加上单道扫描型分光器可同时处理48种元素,实现了传统X射线荧光装置难以做到的数ppm级的高灵敏度、高精度分析。

测试项目

元素分析

样品要求

粉末固体液体均可,1克左右

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