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电子合同
X射线衍射仪（XRD）
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品 牌
Ultima IV
型 号Ultima IV
-
模 式
-
选 项
- 地 址
北京
-
价 格
160
- 联系人：易科学客服
- 联系电话：400-086-3999 转 801
-
*联系我时请说明是在易科学看到的，谢谢！
- 详细介绍
仪器简介
仪器品牌型号：
Ultima IV
仪器简介：
组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试
仪器参数
1. X射线发生器功率为3KW
2. 测角仪为水平测角仪
3. 测角仪最小步进为1/10000度
4. 测角仪配程序式可变狭缝
5. 高反射效率的石墨单色器
6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有）
7. 小角散射测试组件
8. 多用途薄膜测试组件
9. 微区测试组件
10. In-Plane测试组件（理学独有）
11. 高速探测器D/teX-Ultra
12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC
13. 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等
检测项目
可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。
可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。
样品要求
仪器简介
仪器品牌型号：
Ultima IV
仪器简介：
组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试
仪器参数
1. X射线发生器功率为3KW
2. 测角仪为水平测角仪
3. 测角仪最小步进为1/10000度
4. 测角仪配程序式可变狭缝
5. 高反射效率的石墨单色器
6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有）
7. 小角散射测试组件
8. 多用途薄膜测试组件
9. 微区测试组件
10. In-Plane测试组件（理学独有）
11. 高速探测器D/teX-Ultra
12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC
13. 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等
测试项目
可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。
可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。
样品要求
可以测试粉末样品，样品的颗粒度要足够细（至少应该过400目筛子），且样品量不能太少（一般需要大于50立方毫米）。
薄膜样品和块体样品，测试面要求是平整的，一般尺寸要小于Φ28mm，厚度小于18mm。
结果实例
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