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电子合同
扫描电子显微镜（SEM）
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品 牌
日本电子
型 号JSM -6700F
-
模 式
-
选 项
- 地 址
北京
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价 格
110
- 联系人：易科学客服
- 联系电话：400-086-3999 转 801
-
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- 详细介绍
仪器简介
JSM-6700F 扫描电镜（SEM）拥有卓越的高分辨性能、先进的探测技术和友好的用户界面，使它能够精确和清楚地捕捉最短暂的瞬间。 采用了新型EXB式探测器和电子束减速功能，提高了图像质量，可同时进行微区、亚微区成分定性和定量以及元素分布分析。
仪器参数
JSM-6700F 扫描电镜（SEM）的主要技术参数：
分辨率：1.0nm (15 KV)；
放大倍数：15万倍（150,000X） ；
电子枪：冷阴极场发射电子源 ;
加速电压:0.5-30kV (0.1KV/步，可变，普通模式)
信号选择：二次电子模式和背散射模式，X射线信号，辅助信号
检测项目
利用JSM-6700F 扫描电镜（SEM）可进行：
1.形貌分析，通过形貌像可以对样品的形貌、粒径、分散性进行表征，可用于金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织形貌像的观 察，同时还可对材料断口和失效进行分析
2.微区成分分析，通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析，可确定样品的组成
样品要求
仪器简介
JSM-6700F 扫描电镜（SEM）拥有卓越的高分辨性能、先进的探测技术和友好的用户界面，使它能够精确和清楚地捕捉最短暂的瞬间。 采用了新型EXB式探测器和电子束减速功能，提高了图像质量，可同时进行微区、亚微区成分定性和定量以及元素分布分析。
仪器参数
JSM-6700F 扫描电镜（SEM）的主要技术参数：
分辨率：1.0nm (15 KV)；
放大倍数：15万倍（150,000X） ；
电子枪：冷阴极场发射电子源 ;
加速电压:0.5-30kV (0.1KV/步，可变，普通模式)
信号选择：二次电子模式和背散射模式，X射线信号，辅助信号
测试项目
利用JSM-6700F 扫描电镜（SEM）可进行：
1.形貌分析，通过形貌像可以对样品的形貌、粒径、分散性进行表征，可用于金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织形貌像的观 察，同时还可对材料断口和失效进行分析
2.微区成分分析，通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析，可确定样品的组成
样品要求
1.粉末、液体、薄膜、块体均可。
2.尺寸要求：块体样品<2x2x1cm
3.特殊说明：粉末样品需不带磁性；可做块状磁性样品形貌观察，不进行能谱分析。
结果实例
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