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电子合同
扫描电子显微镜（SEM）
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品 牌
日立
型 号SU8010
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模 式
-
选 项
- 地 址
北京
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价 格
100
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选 项
- 地 址
北京
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价 格
100.00元/小时
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开 放
时 间
- 联系人：易科学客服
- 联系电话：400-086-3999 转 801
-
*联系我时请说明是在易科学看到的，谢谢！
- 详细介绍
仪器简介
扫描电子显微镜（SEM）可以进行以下分析：
（1）形貌分析，通过形貌像可以对样品的形貌、粒径、分散性进行表征，可用于金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织形貌像的观 察，同时还可对材料断口和失效进行分析
（2）微区成分分析，通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析，可确定样品的组成。
仪器参数
扫描电子显微镜（SEM）性能参数：
1. 二次电子分辨率：（1）1.0nm（加速电压15kV、WD＝4mm）（2）1.3nm（加速电压1kV、WD＝1.5mm）
2. 加速电压：0.1 ~ 30kV
3. 放大倍率：60 ~ 2,000,000倍
4. 样品台： （1）马达驱动：5轴马达 （2）行程：X ：0 ~ 50mm； Y： 0 ~ 50mm； Z： 360° ；T： -5 ~ 70° ； R ：1.5 ~ 30mm 。（3）最大装载尺寸：100 mm。
5. 探头： Lower 高立体感图像 Upper 高分辨SE、BSE图像 STEM 明、暗场像 EDS 元素分析
6. 反污染措施： （1）冷指 （2）物镜光阑：内置自清洁功能 （3）电子枪：内置加热器 7. 真空系统： （1）离子泵：3台 （2）分子泵：1台 （3）机械泵：1台 主要功能和用途： 主要用于材料表面形貌和表面元素含量及分布研究
检测项目
扫描电子显微镜（SEM）支持对材料表面微观形貌和表面元素定性和半定量分析。
样品要求
结果示例
仪器简介
扫描电子显微镜（SEM）可以进行以下分析：
（1）形貌分析，通过形貌像可以对样品的形貌、粒径、分散性进行表征，可用于金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织形貌像的观 察，同时还可对材料断口和失效进行分析
（2）微区成分分析，通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析，可确定样品的组成。
仪器参数
扫描电子显微镜（SEM）性能参数：
1. 二次电子分辨率：（1）1.0nm（加速电压15kV、WD＝4mm）（2）1.3nm（加速电压1kV、WD＝1.5mm）
2. 加速电压：0.1 ~ 30kV
3. 放大倍率：60 ~ 2,000,000倍
4. 样品台： （1）马达驱动：5轴马达 （2）行程：X ：0 ~ 50mm； Y： 0 ~ 50mm； Z： 360° ；T： -5 ~ 70° ； R ：1.5 ~ 30mm 。（3）最大装载尺寸：100 mm。
5. 探头： Lower 高立体感图像 Upper 高分辨SE、BSE图像 STEM 明、暗场像 EDS 元素分析
6. 反污染措施： （1）冷指 （2）物镜光阑：内置自清洁功能 （3）电子枪：内置加热器 7. 真空系统： （1）离子泵：3台 （2）分子泵：1台 （3）机械泵：1台 主要功能和用途： 主要用于材料表面形貌和表面元素含量及分布研究
测试项目
扫描电子显微镜（SEM）支持对材料表面微观形貌和表面元素定性和半定量分析。
样品要求
样品形态：固体、粉末均可；
样品尺寸要求：小于2×2×1cm；
样品质量要求：粉末样品微量即可；
特殊说明：样品需完全干燥，不具有磁性。
结果实例
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