本服务提供
发票
报价单
电子合同
X射线光电子能谱 (XPS)
-
品 牌
日本ULVAC-PHI公司
型 号PHI Quantera SXM
-
模 式
-
选 项
- 地 址
北京
-
价 格
400
- 联系人：易科学客服
- 联系电话：400-086-3999 转 801
-
*联系我时请说明是在易科学看到的，谢谢！
- 详细介绍
仪器简介
X射线光电子能谱技术（XPS）是电子材料 与元器件显微分析中的一种先进分析技术，而且是和俄歇电子能谱技术（AES）常常配合使用的分析技术。由于它可以比俄歇电子能谱技术更准确地测量原子的内层电子束缚能及其化学位移，所以它不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息，还能为电子材料研究提供各种化合物的元素组成和含量、 化学状态、分子结构、 化学键方面的信息。它在分析电子材料时，不但可提供总体方面的化学信息，还能给出表面、微小区域和深度分布方面 的信息。 另外，因为 入射到样品表面的X射线束是一种光子束，所以对样品的破坏性非常小。这一点对分析有机材料和高分子材料非常有利。
仪器参数
X射线光电子能谱 (XPS)指标及参数
极限真空 ≤6.7×10-8Pa.
最小X射线束斑尺寸 ≤9 µm
极限能量分辨率 ≤ 0.5 eV ，FWHM on Ag 3d 5/2
最高灵敏度≥3,000,000cps，on Ag3d 5/2 at≤1.3 eV FWHM
X射线扫描宽度 in X and Y ，up to 1.2mm
离子枪电压 0-0.5 kV
检测项目
X射线光电子能谱 (XPS)应用
元素成分分析
化学态（元素价态）分析
电子态分析
深度剖析，表面元素分布像，角度XPS
X射线光电子能谱广泛应用于材料科学，生物科学以及其他领域。
样品要求
结果示例
仪器简介
X射线光电子能谱技术（XPS）是电子材料 与元器件显微分析中的一种先进分析技术，而且是和俄歇电子能谱技术（AES）常常配合使用的分析技术。由于它可以比俄歇电子能谱技术更准确地测量原子的内层电子束缚能及其化学位移，所以它不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息，还能为电子材料研究提供各种化合物的元素组成和含量、 化学状态、分子结构、 化学键方面的信息。它在分析电子材料时，不但可提供总体方面的化学信息，还能给出表面、微小区域和深度分布方面 的信息。 另外，因为 入射到样品表面的X射线束是一种光子束，所以对样品的破坏性非常小。这一点对分析有机材料和高分子材料非常有利。
仪器参数
X射线光电子能谱 (XPS)指标及参数
极限真空 ≤6.7×10-8Pa.
最小X射线束斑尺寸 ≤9 µm
极限能量分辨率 ≤ 0.5 eV ，FWHM on Ag 3d 5/2
最高灵敏度≥3,000,000cps，on Ag3d 5/2 at≤1.3 eV FWHM
X射线扫描宽度 in X and Y ，up to 1.2mm
离子枪电压 0-0.5 kV
测试项目
X射线光电子能谱 (XPS)应用
元素成分分析
化学态（元素价态）分析
电子态分析
深度剖析，表面元素分布像，角度XPS
X射线光电子能谱广泛应用于材料科学，生物科学以及其他领域。
样品要求
X射线光电子能谱 (XPS)样品要求：
1.粉末样品用量>5mg；块状样品尺寸＜10mm×10mm×10mm。
2.经干燥处理、不易挥发、无放射性、无磁性、无结晶水且不具有吸水性、无腐蚀物质。
X射线光电子能谱是一种表面化学分析技术，它可被用来分析材料表面的元素组成，元素化学价态和电子态，是应用最为广泛的表面分析技术。
结果实例
易科学优势
QQ在线客服
