X-光荧光分析仪(XRF)
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品 牌
美国AMETEK公司
型 号 -
模 式
-
选 项
- 地 址
北京
-
价 格
200
- 联系人:易科学客服
- 联系电话:400-086-3999 转 801
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- 详细介绍
仪器简介
仪器性能指标
1.环境温度:10℃~40℃,相对湿度:40%~80%
2.电源:220V,50HZ
3.仪器运行的持久性:长时间连续工作
4.元素分析范围:Na(11)-U(92)。
仪器到货时,软件数据库自带其中60种及以上元素的标定曲线。
5.分析原理:偏振能量色散X射线光谱仪
6.测定含量范围:亚ppm -%
7.样品状态:液体、固体、粉末、半固体
8.分析时间:10-600秒,可自定义
9. 分析结果:动态显示
10. 样品转盘:1位大样品
11.X射线探测器:高分辨率SDD硅漂移探测器
12.探测器分辨率:< 160eV
13.稳定性:长期可达0.2%
14. 样品工作室:充氦气系统
15. 分析软件:标准化校正、定性分析、定量分析、完善的X射线校正模式、分析结果存储、控样监测、光谱显示、工作曲线下载、数据输出、数据备份。
16. 数据处理系统:内置数字光谱处理器
17. 环境许可文件:出具环保部门辐射安全许可证,豁免证书。
样品要求
仪器简介
仪器性能指标
1.环境温度:10℃~40℃,相对湿度:40%~80%
2.电源:220V,50HZ
3.仪器运行的持久性:长时间连续工作
4.元素分析范围:Na(11)-U(92)。
仪器到货时,软件数据库自带其中60种及以上元素的标定曲线。
5.分析原理:偏振能量色散X射线光谱仪
6.测定含量范围:亚ppm -%
7.样品状态:液体、固体、粉末、半固体
8.分析时间:10-600秒,可自定义
9. 分析结果:动态显示
10. 样品转盘:1位大样品
11.X射线探测器:高分辨率SDD硅漂移探测器
12.探测器分辨率:< 160eV
13.稳定性:长期可达0.2%
14. 样品工作室:充氦气系统
15. 分析软件:标准化校正、定性分析、定量分析、完善的X射线校正模式、分析结果存储、控样监测、光谱显示、工作曲线下载、数据输出、数据备份。
16. 数据处理系统:内置数字光谱处理器
17. 环境许可文件:出具环保部门辐射安全许可证,豁免证书。
样品要求
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