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透射电子显微镜（TEM）
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品 牌
荷兰fei
型 号TecnaiG2F20S
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模 式
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选 项
- 地 址
四川 成都
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价 格
265
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- 详细介绍
仪器简介
透射电子显微镜（ fei TecnaiG2F20S | |||
| 技术指标 | : 200 KV 电子枪：肖特基热场发射0.25nm TEM信息分辨率: 0.16 nm 样品倾斜角度30o 能谱能量分辨率：B～ 应用领域 | B～ 功能特色 | 分辨率比较高，且配置比较全面0.24nm，配有STEM部件，HAADF探头和可直接采集电子衍射花样的HAADF暗场像和成分分析等，其中成分分析包括STEM的成分面分布和线分布分析等 |
样品要求
仪器简介
仪器名称 | 透射电子显微镜（TEM） |
英文名称 | FE-TEM |
型号 | 荷兰fei TecnaiG2F20S |
技术指标 | 加速电压: 200 KV 电子枪：肖特基热场发射 TEM点分辨率：0.25nm TEM信息分辨率: 0.12 nm STEM分辨率: 0.16 nm 样品倾斜角度X/Y：±30o 能谱能量分辨率：136 ev 元素检测范围：B～U元素 |
应用领域 | 对各种材料内部微结构进行观察；粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察；选区电子衍射和晶体结构分析；金属、陶瓷、半导体、塑料、等显微结构分析；配合能谱仪可以对样品元素做面分布分析，以及各种元素进行定性和半定量微区分析；元素检测范围：B～U元素 |
功能特色 | 分辨率比较高，且配置比较全面: 热场发射灯丝，点分辨率0.24nm，配有EDAX能谱仪和STEM部件，2009年又配置了HAADF探头和可直接采集电子衍射花样的CCD。实验效率高，一次实验可完成高分辨像，电子衍射花样采集，以及HAADF暗场像和成分分析等，其中成分分析包括EDS能谱结合STEM的成分面分布和线分布分析等 |
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