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扫描电镜（SEM）+能谱波普仪（EDS+WDS）可出具CMA检测报告
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品 牌
JEOL
型 号JSM-6490LV
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模 式
-
选 项
- 地 址
湖南 长沙
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价 格
150
- 联系人：易科学客服
- 联系电话：400-086-3999 转 801
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*联系我时请说明是在易科学看到的，谢谢！
- 详细介绍
仪器简介
扫描电镜型号：JSM-6490LV
生产厂家：日本电子株式会社（JEOL）
能谱波普仪型号：NEPTUNE TEXS HP
生产厂家：美国EDAX
主要功能：
用于固体样品表面微区形貌分析、材料断口形貌与其内部结构分析及夹杂物分析、固体样品表面微区成分的定性和半定量分析、微粒或纤维形状观察及其尺寸分析等。
应用范围：
材料（金属材料、非金属材料、纳米材料、半导体材料）、选矿、冶金、陶瓷、生物、医学、地质勘探、宝石鉴定、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控制等领域。
检测项目
用于固体样品表面微区形貌分析、材料断口形貌与其内部结构分析及夹杂物分析、固体样品表面微区成分的定性和半定量分析、微粒或纤维形状观察及其尺寸分析等。
样品要求
仪器简介
扫描电镜型号：JSM-6490LV
生产厂家：日本电子株式会社（JEOL）
能谱波普仪型号：NEPTUNE TEXS HP
生产厂家：美国EDAX
主要功能：
用于固体样品表面微区形貌分析、材料断口形貌与其内部结构分析及夹杂物分析、固体样品表面微区成分的定性和半定量分析、微粒或纤维形状观察及其尺寸分析等。
应用范围：
材料（金属材料、非金属材料、纳米材料、半导体材料）、选矿、冶金、陶瓷、生物、医学、地质勘探、宝石鉴定、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控制等领域。
测试项目
用于固体样品表面微区形貌分析、材料断口形貌与其内部结构分析及夹杂物分析、固体样品表面微区成分的定性和半定量分析、微粒或纤维形状观察及其尺寸分析等。
样品要求
样品要求：固体粉末；非磁性材料。
结果实例
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