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超高压电子显微镜

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超高压电子显微镜

  • 品 牌

    JEOL

    型 号

    JEM-1000

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        北京

      • 价 格

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  • 详细介绍
仪器简介

仪器型号:

JEM-1000


性能参数:

加速电压1000kv可实现样品原位加热(最高温度可达1000摄氏度)及原位拉伸试验(最大拉力2kg)

测量范围:

放大倍数150-30万倍,选区衍射相机长2-6m测量精度:晶格分辨率0.27nm


检测特色:

主要用于各种材料的微结构分析,组织特征和相鉴定,缺陷研究等。与普通电子显微镜相比较,它可以进行微观过程的动态实验观察、辐照效应研究、厚试样和粗大析出物的观察分析以及半导体微器件结构研究

样品要求
仪器简介

仪器型号:

JEM-1000


性能参数:

加速电压1000kv可实现样品原位加热(最高温度可达1000摄氏度)及原位拉伸试验(最大拉力2kg)

测量范围:

放大倍数150-30万倍,选区衍射相机长2-6m测量精度:晶格分辨率0.27nm


检测特色:

主要用于各种材料的微结构分析,组织特征和相鉴定,缺陷研究等。与普通电子显微镜相比较,它可以进行微观过程的动态实验观察、辐照效应研究、厚试样和粗大析出物的观察分析以及半导体微器件结构研究

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