超高压电子显微镜
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品 牌
JEOL
型 号JEM-1000
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模 式
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选 项
- 地 址
北京
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价 格
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- 详细介绍
仪器简介
仪器型号:
JEM-1000
性能参数:
加速电压1000kv可实现样品原位加热(最高温度可达1000摄氏度)及原位拉伸试验(最大拉力2kg)
测量范围:
放大倍数150-30万倍,选区衍射相机长2-6m测量精度:晶格分辨率0.27nm
检测特色:
主要用于各种材料的微结构分析,组织特征和相鉴定,缺陷研究等。与普通电子显微镜相比较,它可以进行微观过程的动态实验观察、辐照效应研究、厚试样和粗大析出物的观察分析以及半导体微器件结构研究
样品要求
仪器简介
仪器型号:
JEM-1000
性能参数:
加速电压1000kv可实现样品原位加热(最高温度可达1000摄氏度)及原位拉伸试验(最大拉力2kg)
测量范围:
放大倍数150-30万倍,选区衍射相机长2-6m测量精度:晶格分辨率0.27nm
检测特色:
主要用于各种材料的微结构分析,组织特征和相鉴定,缺陷研究等。与普通电子显微镜相比较,它可以进行微观过程的动态实验观察、辐照效应研究、厚试样和粗大析出物的观察分析以及半导体微器件结构研究
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