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场发射扫描电子显微镜(热场)SEM

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场发射扫描电子显微镜(热场)SEM

  • 品 牌

    JEOL

    型 号

    JSM-7800F

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        北京

      • 价 格

        350

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  • 详细介绍
仪器简介

仪器设备厂商及型号:
JEOL JSM-7800F

 

技术指标:  

分辨率:0.8nm (15kV)1.2nm (1kV)  

放大倍数:25 to 1,000,000x  

加速电压:0.01 to 30kV  

束流强度:200 nA(15kV)  

电子枪:浸没式热场发射电子枪  

物镜设计:超级混合式物镜  

样品台:5轴马达驱动

热场发射电子枪;
二次电子像分辨率:1.0 nm;


主要特点:
超高的分辨率0.8 nm (15 kV) and 1.2 nm (1 kV).
高速精确分析能力
稳定的大束流
从磁性样品到非导体样品使用范围广泛

 

主要功能和用途:
二次电子像 背散射电子像 低位电子像 减速模式(低电压)

 


样品要求
仪器简介

仪器设备厂商及型号:
JEOL JSM-7800F

 

技术指标:  

分辨率:0.8nm (15kV)1.2nm (1kV)  

放大倍数:25 to 1,000,000x  

加速电压:0.01 to 30kV  

束流强度:200 nA(15kV)  

电子枪:浸没式热场发射电子枪  

物镜设计:超级混合式物镜  

样品台:5轴马达驱动

热场发射电子枪;
二次电子像分辨率:1.0 nm;


主要特点:
超高的分辨率0.8 nm (15 kV) and 1.2 nm (1 kV).
高速精确分析能力
稳定的大束流
从磁性样品到非导体样品使用范围广泛

 

主要功能和用途:
二次电子像 背散射电子像 低位电子像 减速模式(低电压)

 


样品要求

样品形态:送检样品必须为干燥固体、块状、片状、纤维状及粉末状均可

样品尺寸:样品高度小于15mm,直径小于30mm

特殊要求:样品应具有导电性。若样品不导电,需要进行喷金、碳等导电膜的处理;样品中不得含有水分,多孔类或易潮解的样品,请提前真空干燥处理。

 




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