X射线衍射仪 (XRD)
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品 牌
德国布鲁克
型 号D8 Advance
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模 式
-
选 项
- 地 址
北京
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价 格
160
- 联系人:易科学客服
- 联系电话:400-086-3999 转 801
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- 详细介绍
仪器简介
仪器品牌及型号:
德国布鲁克 D8 ADVANCE
性能参数:
Cu靶陶瓷X光管;
LynxEye一维阵列探测器;
采用光学编码技术的θ/θ立式测角仪;
2θ范围:-10°-168°;
分辨率:0.0001° ;
额定输出功率3kW;
电流电压稳定度优于±0.005%;
高精度步径式马达控制双圆测角仪,测角仪半径≥200mm,2θ转动范围-10°~168°,可读最小步长0.0001°,角度重现性0.0001°;林格斯一维探测器,动态范围>1×109cps,背景<0.1cps
主要用途:
1. 物相定性分析(粉体、块体与薄膜等)
2. 物相定量分析
3. 精确测定点阵常数
4. 晶粒大小及晶格畸变测定
5. 颗粒大小及其分布测试
6. 薄膜厚度(<100nm)及粗糙度测试
7. 物质相变测定
样品要求
仪器简介
仪器品牌及型号:
德国布鲁克 D8 ADVANCE
性能参数:
Cu靶陶瓷X光管;
LynxEye一维阵列探测器;
采用光学编码技术的θ/θ立式测角仪;
2θ范围:-10°-168°;
分辨率:0.0001° ;
额定输出功率3kW;
电流电压稳定度优于±0.005%;
高精度步径式马达控制双圆测角仪,测角仪半径≥200mm,2θ转动范围-10°~168°,可读最小步长0.0001°,角度重现性0.0001°;林格斯一维探测器,动态范围>1×109cps,背景<0.1cps
主要用途:
1. 物相定性分析(粉体、块体与薄膜等)
2. 物相定量分析
3. 精确测定点阵常数
4. 晶粒大小及晶格畸变测定
5. 颗粒大小及其分布测试
6. 薄膜厚度(<100nm)及粗糙度测试
7. 物质相变测定
样品要求
可以测试粉末样品,样品的颗粒度要足够细(至少应该过400目筛子),且样品量不能太少(一般需要大于50立方毫米)。
薄膜样品和块体样品,测试面要求是平整的,一般尺寸要小于Φ28mm,厚度小于18mm。