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冷场发射扫描电镜(SEM)

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冷场发射扫描电镜(SEM)

  • 品 牌

    美国热电(Thermo)

    型 号

    JSM-6480LV

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        北京

      • 价 格

        110

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仪器简介

冷场发射扫描电镜(SEM)具有超高分辨率,能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象观察及图像处理。冷场发射扫描电镜(SEM)利用二次电子成像原理,在镀膜或不镀膜的基础上,低电压下通过在纳米尺度上观察生物样品如组织、细胞、微生物以及生物大分子等,获得忠实原貌的立体感极强的样品表面超微形貌结构信息。 具有高性能x射线能谱仪,能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析,具有形貌、化学组分综合分析能力。

仪器参数

冷场发射扫描电镜(SEM)性能参数:
1.FE SEM 性能指标:
分辨率: 1.0nm (15kV);
2.2nm (1kV 时)
加速电压: 0.5kV ~ 30Kv
放大倍数:×25 ~ ×650,000
束流范围:10-13 ~ 2×10-9A
聚光镜:两级
样品室: 最大可装载直径为150mm 的样品
电子枪: 全自动圆锥形冷场发射枪
2、EDS 性能指标:元素分析范围: Be(4) ~U (92)
探测器晶体面积: 大于等于10 平方毫米
分辨率: 优于132 eV, Mn Ka 线>5000cps
分辨率高达4096×4096×16bit 的图像采集和显示

检测项目

冷场发射扫描电镜(SEM)主要功能和用途:
与扫描电镜相比场发射扫描电镜具有空间分辨率高,稳定性好,具有二次电子图像分辨率高、放大倍数连续可调、景深大、组织形貌观察与成分测定相结合、试样制作简单等特点。其配件X射线能谱仪具有微区分析功能,高灵敏度的探测器,高通量的全数字脉冲处理器和数字图像,丰富强大的软件功能

样品要求
仪器简介

冷场发射扫描电镜(SEM)具有超高分辨率,能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象观察及图像处理。冷场发射扫描电镜(SEM)利用二次电子成像原理,在镀膜或不镀膜的基础上,低电压下通过在纳米尺度上观察生物样品如组织、细胞、微生物以及生物大分子等,获得忠实原貌的立体感极强的样品表面超微形貌结构信息。 具有高性能x射线能谱仪,能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析,具有形貌、化学组分综合分析能力。

仪器参数

冷场发射扫描电镜(SEM)性能参数:
1.FE SEM 性能指标:
分辨率: 1.0nm (15kV);
2.2nm (1kV 时)
加速电压: 0.5kV ~ 30Kv
放大倍数:×25 ~ ×650,000
束流范围:10-13 ~ 2×10-9A
聚光镜:两级
样品室: 最大可装载直径为150mm 的样品
电子枪: 全自动圆锥形冷场发射枪
2、EDS 性能指标:元素分析范围: Be(4) ~U (92)
探测器晶体面积: 大于等于10 平方毫米
分辨率: 优于132 eV, Mn Ka 线>5000cps
分辨率高达4096×4096×16bit 的图像采集和显示

测试项目

冷场发射扫描电镜(SEM)主要功能和用途:
与扫描电镜相比场发射扫描电镜具有空间分辨率高,稳定性好,具有二次电子图像分辨率高、放大倍数连续可调、景深大、组织形貌观察与成分测定相结合、试样制作简单等特点。其配件X射线能谱仪具有微区分析功能,高灵敏度的探测器,高通量的全数字脉冲处理器和数字图像,丰富强大的软件功能

样品要求

冷场发射扫描电镜(SEM)对样品要求:

样品形态:送检样品必须为干燥固体、块状、片状、纤维状及粉末状均可
样品尺寸:样品高度小于15mm,直径小于30mm
特殊要求:样品应具有导电性。若样品不导电,需要进行喷金、碳等导电膜的处理;样品中含有铁(Fe)、钴(Co)、镍(Ni),需要在委托测试单中重点标识,进行特殊处理;样品中不得含有水分,多孔类或易潮解的样品,请提前真空干燥处理。

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