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X射线光电子能谱仪(XPS)

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X射线光电子能谱仪(XPS)

  • 品 牌

    日本岛津

    型 号

    AXIS Ultra DLD

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        北京

      • 价 格

        面议

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  • 详细介绍
仪器简介

X射线光电子能谱技术(XPS)是电子材料 与元器件显微分析中的一种先进分析技术,而且是和俄歇电子能谱技术(AES)常常配合使用的分析技术。由于它可以比俄歇电子能谱技术更准确地测量原子的内层电子束缚能及其化学位移,所以它不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息,还能为电子材料研究提供各种化合物的元素组成和含量、 化学状态、分子结构、 化学键方面的信息。它在分析电子材料时,不但可提供总体方面的化学信息,还能给出表面、微小区域和深度分布方面 的信息。 另外,因为 入射到样品表面的X射线束是一种光子束,所以对样品的破坏性非常小。这一点对分析有机材料和高分子材料非常有利。

仪器参数

性能参数:
X 射线源:能量:1-15KV;
靶(阳极):双阳极(标准);
靶材料:Mg/Al;
功率:最大0.45kw 电子能量分析器:类型: 180o 半球和球镜组合;
平均半径:165mm 分析器电子学:固定分析器传输-FAT 扫描,固定阻滞率-FRR(可选)、能量范围:0-3200ev, 0-1500ev(高分辨);
通能:可编程,5-320ev 分析室:15 个指向分析点,267mm 直径;
磁屏蔽:双层μ金属;
真空度:7×10-8Pa,2×10-8Pa 样品操控:样品台:XYZθ(自动/手动);
样品个数:1/10/可变;
电子源(可选):能量:10kev;
工作距离:26mm;
放大率:×25-150000 单色器:500mm 罗兰圆;
晶体:石英;
功率:最大0.450kw

检测项目

主要功能和用途:
该仪器主要用固体样品表面化学组成、化学元素像、化学价态、价带结构、晶体结构分析及深度剖析。 可进行金属、合金中夹杂物成分分析,炉渣、矿相、材料中元素及其在体相中的深度分布分析等,能给出 逐层元素变化的具体信息(包括价态、含量、分布及元素的图像)。适用于非放射性和非挥发性金属、合金等导体、半导体、绝缘体,粉末、薄膜等

样品要求
仪器简介

X射线光电子能谱技术(XPS)是电子材料 与元器件显微分析中的一种先进分析技术,而且是和俄歇电子能谱技术(AES)常常配合使用的分析技术。由于它可以比俄歇电子能谱技术更准确地测量原子的内层电子束缚能及其化学位移,所以它不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息,还能为电子材料研究提供各种化合物的元素组成和含量、 化学状态、分子结构、 化学键方面的信息。它在分析电子材料时,不但可提供总体方面的化学信息,还能给出表面、微小区域和深度分布方面 的信息。 另外,因为 入射到样品表面的X射线束是一种光子束,所以对样品的破坏性非常小。这一点对分析有机材料和高分子材料非常有利。

仪器参数

性能参数:
X 射线源:能量:1-15KV;
靶(阳极):双阳极(标准);
靶材料:Mg/Al;
功率:最大0.45kw 电子能量分析器:类型: 180o 半球和球镜组合;
平均半径:165mm 分析器电子学:固定分析器传输-FAT 扫描,固定阻滞率-FRR(可选)、能量范围:0-3200ev, 0-1500ev(高分辨);
通能:可编程,5-320ev 分析室:15 个指向分析点,267mm 直径;
磁屏蔽:双层μ金属;
真空度:7×10-8Pa,2×10-8Pa 样品操控:样品台:XYZθ(自动/手动);
样品个数:1/10/可变;
电子源(可选):能量:10kev;
工作距离:26mm;
放大率:×25-150000 单色器:500mm 罗兰圆;
晶体:石英;
功率:最大0.450kw

测试项目

主要功能和用途:
该仪器主要用固体样品表面化学组成、化学元素像、化学价态、价带结构、晶体结构分析及深度剖析。 可进行金属、合金中夹杂物成分分析,炉渣、矿相、材料中元素及其在体相中的深度分布分析等,能给出 逐层元素变化的具体信息(包括价态、含量、分布及元素的图像)。适用于非放射性和非挥发性金属、合金等导体、半导体、绝缘体,粉末、薄膜等

样品要求

无表观磁性,无水分,粉末样品最好压片,样品越小越好。


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