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X射线荧光光谱仪XRF（苏州）
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品 牌
帕纳科
型 号AXIOS
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模 式
-
选 项
- 地 址
北京
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价 格
120
- 联系人：易科学客服
- 联系电话：400-086-3999 转 801
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- 详细介绍
仪器简介
AxiosmAX系列X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence XRF)是非破坏性，准确和可重现性的XRF元素分析。
X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，释放出来，电子的逐放会导致该电子可曾出现相应当电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应当电子空位。由于不同电子壳层之间存在能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性—特征波长(定性分析基础)；依据谱线强度与元素含量的比例关系进行定量分析。
仪器参数
1. 分析元素范围 ：分析范围：1ppm～99.99%(其测试下限最高可以达到1ppm，因样品不同而指标有所不同)
2. 仪器测量精度 ：小于0.05%(测试含量大于97%的样品)
检测项目
1. 同时分析元素能力 ：几十种元素可同时分析。
2. 测试样品类型 ：固体、粉末、液体样品均可以测试，对样品的几何形状几乎无限制。
3. 分析元素 ：F(氟)～U(铀)
电气、电子材料，化学工业，石油化工，窑业，医药，农业与食品，钢铁与有色金属，汽车与机械，环境等领域内得到广泛应用。可进行矿石、合金、土壤、塑料、纤维材料中Na11~U92之间元素的定性、半定量和定量分析。
样品要求
结果示例
仪器简介
AxiosmAX系列X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence XRF)是非破坏性，准确和可重现性的XRF元素分析。
X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，释放出来，电子的逐放会导致该电子可曾出现相应当电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应当电子空位。由于不同电子壳层之间存在能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性—特征波长(定性分析基础)；依据谱线强度与元素含量的比例关系进行定量分析。
仪器参数
1. 分析元素范围 ：分析范围：1ppm～99.99%(其测试下限最高可以达到1ppm，因样品不同而指标有所不同)
2. 仪器测量精度 ：小于0.05%(测试含量大于97%的样品)
测试项目
1. 同时分析元素能力 ：几十种元素可同时分析。
2. 测试样品类型 ：固体、粉末、液体样品均可以测试，对样品的几何形状几乎无限制。
3. 分析元素 ：F(氟)～U(铀)
电气、电子材料，化学工业，石油化工，窑业，医药，农业与食品，钢铁与有色金属，汽车与机械，环境等领域内得到广泛应用。可进行矿石、合金、土壤、塑料、纤维材料中Na11~U92之间元素的定性、半定量和定量分析。
样品要求
试样在X射线照射下应该稳定、不变形、不引起化学变化。
固体：尺寸要求(mm) 长×宽：10×10mm～200×200mm 高：<100mm
粉末：样品均匀、粒度>200目 样品量>0.1g。
结果实例
常见问题及回答
为什么要求XRF测试粉末样品用量最好达到3 g以上？
因为需要和淀粉一起压片做，如果样品量太少的，需要加很多淀粉容易导致结果不准确。
为什么XRF测试要求薄膜（块体）样品尺寸直接要大于2.5 cm？
因为放置薄膜（块体）样品需要放进测试槽，测试槽的直径是2.5 cm，如果样品太小会固定不了。
XRF测试可以精确到多少？
XRF测试原则上可以精确到ppm级别的，但这个精度是基于标准物质的，常规的XRF测试只是半定量测试，误差不好判断，仅作为元素含量百分比的参考。
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