功能用途：

用于采集二次电子、背散射电子等信号对各种固体材料进行的微观形貌分析，用于对材料微区成分元素种类与含量分析。

仪器型号： Nova NanoSEM 450

生产厂家：美国FEI

性能参数：

高真空成像分辨率：1.0 nm @ 15 kV (SE)，1.4 nm @ 1 kV (SE)，无射束减速

电子束参数范围

射束着陆能量：50 eV - 30 keV

探针电流：0.6 pA - 200 nA（可持续调节）

最大水平视场宽度：4.0 mm @ 5 mm WD

能谱参数：

探测面积:50mm2

输入计数率>500,000cps

采集计数率>200,000cps

Mn Kα 典型分辨率<125eV，C Kα<48eV

------------------------------------------------

实验流程

1. 电话或者邮件沟通仪器、样品、测试及时间等相关信息，联系方式：0755-86392410，iac@siat.ac.cn；

2. 填写《委托检测协议书》电子版或纸质版；

3. 样品可通过邮寄或者送样方式至相关负责人，详细地址：广东省深圳市南山区西丽深圳大学城学苑大道1068号技术平台；

4. 收到样品及有关测试申请表后，我部门客户服务代表将联系贵公司，核对相关信息，并确认服务收费和检测周期；

5. 双方确认后，客户以现金、支票或银行汇款方式缴付测试费用，为了不耽误您的检测时间，请将汇款凭证传真或者邮件至本部门客户服务代表。我方将在收到检测费用之后安排测试。

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样品要求

不做磁性样品 。

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交付结果

本部门只提供中文版测试报告，可按客户要求传真检测报告，正本检测报告由客户自行取回，或通过挂号信或快递到付邮寄给客户。

本部门提供的检测报告仅供参考，不做任何保证。

功能用途：

用于采集二次电子、背散射电子等信号对各种固体材料进行的微观形貌分析，用于对材料微区成分元素种类与含量分析。

仪器型号： Nova NanoSEM 450

生产厂家：美国FEI

性能参数：

高真空成像分辨率：1.0 nm @ 15 kV (SE)，1.4 nm @ 1 kV (SE)，无射束减速

电子束参数范围

射束着陆能量：50 eV - 30 keV

探针电流：0.6 pA - 200 nA（可持续调节）

最大水平视场宽度：4.0 mm @ 5 mm WD

能谱参数：

探测面积:50mm2

输入计数率>500,000cps

采集计数率>200,000cps

Mn Kα 典型分辨率<125eV，C Kα<48eV

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实验流程

1. 电话或者邮件沟通仪器、样品、测试及时间等相关信息，联系方式：0755-86392410，iac@siat.ac.cn；

2. 填写《委托检测协议书》电子版或纸质版；

3. 样品可通过邮寄或者送样方式至相关负责人，详细地址：广东省深圳市南山区西丽深圳大学城学苑大道1068号技术平台；

4. 收到样品及有关测试申请表后，我部门客户服务代表将联系贵公司，核对相关信息，并确认服务收费和检测周期；

5. 双方确认后，客户以现金、支票或银行汇款方式缴付测试费用，为了不耽误您的检测时间，请将汇款凭证传真或者邮件至本部门客户服务代表。我方将在收到检测费用之后安排测试。

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样品要求

不做磁性样品 。

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交付结果

本部门只提供中文版测试报告，可按客户要求传真检测报告，正本检测报告由客户自行取回，或通过挂号信或快递到付邮寄给客户。

本部门提供的检测报告仅供参考，不做任何保证。