X射线衍射仪 XRD
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品 牌
布鲁克
型 号D8 \'Advance
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模 式
-
选 项
- 地 址
山东 淄博
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价 格
55
- 联系人:易科学客服
- 联系电话:400-086-3999 转 801
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- 详细介绍
仪器简介
布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过革命性的TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!
高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供全球保证!先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率, 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。
主要应用:
物相定性分析 结晶度及非晶相含量分析
结构精修及解析 物相定量分析
点阵参数精确测量 无标样定量分析
微观应变分析 晶粒尺寸分析
原位分析 残余应力
低角度介孔材料测量 织构及ODF分析
薄膜掠入射 薄膜反射率测量
小角散射
主要特点:
智能X射线衍射仪SmartLab系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
主要的应用有:
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld定量分析
5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析
仪器参数
技术指标:
Theta/theta立式测角仪
2Theta角度范围:-110~168°
角度精度:0.0001度
Cu靶,标准尺寸光管
探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器
仪器尺寸:1868x1300x1135mm
重量:770kg
功率:6.5kW
检测项目
XRD
样品要求
仪器简介
布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过革命性的TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!
高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供全球保证!先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率, 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。
主要应用:
物相定性分析 结晶度及非晶相含量分析
结构精修及解析 物相定量分析
点阵参数精确测量 无标样定量分析
微观应变分析 晶粒尺寸分析
原位分析 残余应力
低角度介孔材料测量 织构及ODF分析
薄膜掠入射 薄膜反射率测量
小角散射
主要特点:
智能X射线衍射仪SmartLab系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
主要的应用有:
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld定量分析
5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析
仪器参数
技术指标:
Theta/theta立式测角仪
2Theta角度范围:-110~168°
角度精度:0.0001度
Cu靶,标准尺寸光管
探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器
仪器尺寸:1868x1300x1135mm
重量:770kg
功率:6.5kW
测试项目
XRD
样品要求
粉末样品、块状样品、薄膜样品均可。粉末30mg,细小、均匀粉末或者块体,非晶材料需仔细研磨