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场发射扫描电子显微镜(SEM)

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场发射扫描电子显微镜(SEM)

  • 品 牌

    美国FEI

    型 号

    Quanta FEG 250

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        广东 广州

      • 价 格

        300

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  • 详细介绍
仪器简介


【服务内容】

1、材料表面、断面形貌观察;

2、该电镜配有附件EDAX 能谱仪,用于微区成分定性定量分析;

3、电子背散射衍射仪,用于晶体结构、晶体取向、晶粒分布、应力分布等分析。

 

【设备规格】美国FEI

1、型号:Quanta FEG 250

2、电子束电压范围: 200V - 30 kV               

3、电子束分辨率

4、高真空模式: 

- 1.0 nm / 30 kV (SE)

- 2.5 nm / 30 kV (BSE)

- 3.0 nm / 1 kV (SE)

5、低真空模式:

- 1.4 nm / 30 kV (SE)

- 2.5 nm / 30 kV (BSE)

- 3.0 nm / 3  kV (SE)

6、环扫模式(ESEM):

- 1.4 nm / 30 kV (SE)



样品要求
仪器简介


【服务内容】

1、材料表面、断面形貌观察;

2、该电镜配有附件EDAX 能谱仪,用于微区成分定性定量分析;

3、电子背散射衍射仪,用于晶体结构、晶体取向、晶粒分布、应力分布等分析。

 

【设备规格】美国FEI

1、型号:Quanta FEG 250

2、电子束电压范围: 200V - 30 kV               

3、电子束分辨率

4、高真空模式: 

- 1.0 nm / 30 kV (SE)

- 2.5 nm / 30 kV (BSE)

- 3.0 nm / 1 kV (SE)

5、低真空模式:

- 1.4 nm / 30 kV (SE)

- 2.5 nm / 30 kV (BSE)

- 3.0 nm / 3  kV (SE)

6、环扫模式(ESEM):

- 1.4 nm / 30 kV (SE)



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