场发射扫描电子显微镜(SEM)
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品 牌
Hitachi(日立)
型 号SU8010/8020
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模 式
-
选 项
- 地 址
山东 淄博
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价 格
100
- 联系人:易科学客服
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- 详细介绍
仪器简介
SU8020拥有卓越的高分辨性能、先进的探测技术和友好的用户界面,使它能够精确和清楚地捕捉最短暂的瞬间。 采用了新型ExB式探测器和电子束减速功能,提高了图像质量,尤其是将低加速电压下的图像质量提高到了新的水平;新型透镜系统,提供了高分辨模式、高束流模式、大工作距离模式、磁性样品模式等多种工作模式,使以往无法实现的工作得以轻松成,同时配备有高性能的HORIBA EX-350,可同时进行微区、亚微区成分定性和定量以及元素分布分析。
1) 广泛地应用于各种金属材料和非金属材料的检验和研究
2) 在材料科学研究、金属材料、化学材料、半导体材料、陶瓷材料等多个领域可以进行材料的微观形貌、组织、成分分析,材料断口分析和失效分析
3) 各种材料的形貌组织观察
4) 材料实时微区成分分析
5) 快速的多元素面扫描和线扫描分布测量
6) 晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量
7) 元素定量、定性成分分析
8) 晶体、晶粒的相鉴定
仪器参数
1) 电子枪:冷场发射电子枪
2) 分辨率:
a) 1.0nm (15kV,工作距离4mm) b) 2.0nm (1kV)不用减速模式 c) 1.3nm (1KV)电子减速功能 d) (减速和非减速功能可自由切换)
3) 放大倍数:
a) 低倍模式, 20-2000 x (底片输出),80-5000 x(显示器输出) b) 高倍模式, 80-800000 x(底片输出),300-2000000 x(显示输出)
4) 加速电压:0.1 ~ 30kV (0.1KV)
5) 可同时显示以显示器为准和以底片为准的两种模式的放大倍率
6) 物镜光阑:4孔可调式,内置加热自清洁装置
7) 样品台驱动:3轴马达驱动(包含 两轴手动)
8) 通过预抽室交换样品,预抽室端面透明,可观察到样品交换过程
9) 具有样品安装到位提示,避免样品在安装时脱落
10) 具有高位和低位二次电子探测器
a) 高位探头安装在物镜上方,避免影响物镜成像 b) 二次电子和被散射电子能在一个检测器上按任意比例混合(100多种混合方式)
11) 扫描模式:TV扫描(扫描速度不低于25帧/秒)
a) 快扫描 b) 慢扫描 全屏模式下1、4、20、40、80秒/桢,可选
12) 图像储存:640×480,1280×960,2560×1920,5120×3480像素
13) 捕捉的图片可存储在临时图片栏内,可选择单张存储或批量存储,可自动连续命名
14) 电子图像移动:±12μm (WD=8mm)
15) 真空系统:
a) 真空度:10-7Pa (电子枪);10-4Pa (样品室) b) 真空泵:分子泵(磁悬浮型)300L/S×1 c) 机械泵
检测项目
磁性/非磁性 形貌观察
EDS能谱-点扫、线扫、面扫
样品要求
仪器简介
SU8020拥有卓越的高分辨性能、先进的探测技术和友好的用户界面,使它能够精确和清楚地捕捉最短暂的瞬间。 采用了新型ExB式探测器和电子束减速功能,提高了图像质量,尤其是将低加速电压下的图像质量提高到了新的水平;新型透镜系统,提供了高分辨模式、高束流模式、大工作距离模式、磁性样品模式等多种工作模式,使以往无法实现的工作得以轻松成,同时配备有高性能的HORIBA EX-350,可同时进行微区、亚微区成分定性和定量以及元素分布分析。
1) 广泛地应用于各种金属材料和非金属材料的检验和研究
2) 在材料科学研究、金属材料、化学材料、半导体材料、陶瓷材料等多个领域可以进行材料的微观形貌、组织、成分分析,材料断口分析和失效分析
3) 各种材料的形貌组织观察
4) 材料实时微区成分分析
5) 快速的多元素面扫描和线扫描分布测量
6) 晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量
7) 元素定量、定性成分分析
8) 晶体、晶粒的相鉴定
仪器参数
1) 电子枪:冷场发射电子枪
2) 分辨率:
a) 1.0nm (15kV,工作距离4mm) b) 2.0nm (1kV)不用减速模式 c) 1.3nm (1KV)电子减速功能 d) (减速和非减速功能可自由切换)
3) 放大倍数:
a) 低倍模式, 20-2000 x (底片输出),80-5000 x(显示器输出) b) 高倍模式, 80-800000 x(底片输出),300-2000000 x(显示输出)
4) 加速电压:0.1 ~ 30kV (0.1KV)
5) 可同时显示以显示器为准和以底片为准的两种模式的放大倍率
6) 物镜光阑:4孔可调式,内置加热自清洁装置
7) 样品台驱动:3轴马达驱动(包含 两轴手动)
8) 通过预抽室交换样品,预抽室端面透明,可观察到样品交换过程
9) 具有样品安装到位提示,避免样品在安装时脱落
10) 具有高位和低位二次电子探测器
a) 高位探头安装在物镜上方,避免影响物镜成像 b) 二次电子和被散射电子能在一个检测器上按任意比例混合(100多种混合方式)
11) 扫描模式:TV扫描(扫描速度不低于25帧/秒)
a) 快扫描 b) 慢扫描 全屏模式下1、4、20、40、80秒/桢,可选
12) 图像储存:640×480,1280×960,2560×1920,5120×3480像素
13) 捕捉的图片可存储在临时图片栏内,可选择单张存储或批量存储,可自动连续命名
14) 电子图像移动:±12μm (WD=8mm)
15) 真空系统:
a) 真空度:10-7Pa (电子枪);10-4Pa (样品室) b) 真空泵:分子泵(磁悬浮型)300L/S×1 c) 机械泵
测试项目
磁性/非磁性 形貌观察
EDS能谱-点扫、线扫、面扫
样品要求
>3mg,固体、粉末、薄膜或纤维样品,潮湿的样品不能测试。有机的样品需要具体沟通