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扫描电子显微镜(SEM)

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扫描电子显微镜(SEM)

  • 品 牌

    Hitachi(日立)

    型 号

    Hitachi(日立)-S3400N(II型)

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        广东 江门

      • 价 格

        400

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  • 详细介绍
仪器简介

仪器型号:

扫描电子显微镜(SEM):Hitachi(日立)-S3400N(II型)    

能谱仪(EDS):HORIBA(堀场)-EMAX250


应用范围:固体微观形貌观察、尺寸测量(微米亚纳米测试)及微区元素分析;


技术参数:1、SEM:放大倍率5-300,000可调,常用于小于50,000的样品观察;2、EDS:可提供面扫描、点扫描、线扫描、元素分布图等分析,最小测试直径为1μm,用于样品定性半定量分析;

           

样品要求:固体干燥样品,粉末样品量在1-5g;块状样品要求直径小于51mm,高度低于50mm,样品干净、无油污。

样品要求
仪器简介

仪器型号:

扫描电子显微镜(SEM):Hitachi(日立)-S3400N(II型)    

能谱仪(EDS):HORIBA(堀场)-EMAX250


应用范围:固体微观形貌观察、尺寸测量(微米亚纳米测试)及微区元素分析;


技术参数:1、SEM:放大倍率5-300,000可调,常用于小于50,000的样品观察;2、EDS:可提供面扫描、点扫描、线扫描、元素分布图等分析,最小测试直径为1μm,用于样品定性半定量分析;

           

样品要求:固体干燥样品,粉末样品量在1-5g;块状样品要求直径小于51mm,高度低于50mm,样品干净、无油污。

样品要求

固体干燥样品,粉末样品量在1-5g;块状样品要求直径小于51mm,高度低于50mm,样品干净、无油污

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