扫描电子显微镜(SEM)
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品 牌
Hitachi(日立)
型 号Hitachi(日立)-S3400N(II型)
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模 式
-
选 项
- 地 址
广东 江门
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价 格
400
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- 详细介绍
仪器简介
仪器型号:
扫描电子显微镜(SEM):Hitachi(日立)-S3400N(II型)
能谱仪(EDS):HORIBA(堀场)-EMAX250
应用范围:固体微观形貌观察、尺寸测量(微米亚纳米测试)及微区元素分析;
技术参数:1、SEM:放大倍率5-300,000可调,常用于小于50,000的样品观察;2、EDS:可提供面扫描、点扫描、线扫描、元素分布图等分析,最小测试直径为1μm,用于样品定性半定量分析;
样品要求:固体干燥样品,粉末样品量在1-5g;块状样品要求直径小于51mm,高度低于50mm,样品干净、无油污。
样品要求
仪器简介
仪器型号:
扫描电子显微镜(SEM):Hitachi(日立)-S3400N(II型)
能谱仪(EDS):HORIBA(堀场)-EMAX250
应用范围:固体微观形貌观察、尺寸测量(微米亚纳米测试)及微区元素分析;
技术参数:1、SEM:放大倍率5-300,000可调,常用于小于50,000的样品观察;2、EDS:可提供面扫描、点扫描、线扫描、元素分布图等分析,最小测试直径为1μm,用于样品定性半定量分析;
样品要求:固体干燥样品,粉末样品量在1-5g;块状样品要求直径小于51mm,高度低于50mm,样品干净、无油污。
样品要求
固体干燥样品,粉末样品量在1-5g;块状样品要求直径小于51mm,高度低于50mm,样品干净、无油污