XRD测试
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仪器简介
仪器简介:
X'Pert Powder,配置超能阵列探测器,速度与强度的理想组合,满足各种粉末应用要求,具有无限扩展性。
超高频X射线发生器
采用第二代陶瓷X光管专利技术,通过精密机械加工使阳极靶材三维高精度定位,用户在更换X光管后无需重新校准路
立式测角仪,采用DOPS直接光学位置编码专利技术
技术参数:
1,功率:3kW
2,测角仪重现性:0.0001度
3,设备尺寸:1975×1132×1371 mm
(H×D×W)
主要特点:
灵活——无论是工业生产控制还是深入的材料研究,均可根据单独的带药求进行定制。从未知物相鉴定和混合物定量,到诸如残余应力和晶粒择优取向的微观结构属性测定,系统的应用不受任何限制,在所有领域都体现出高性能。在常温或非环境温度条件下,均可对块状材料以及薄膜进行分析。
快速——得益于帕纳科荣获专利的光学部件和平台PreFIX-即预校准光路的安装方法,只需几分钟即可完成重新配置并执行不同类型的分析。
前瞻性——如果出现新的应用,只需增加必要的模块即可。开放式硬件设计结构确保了X'Pert
Powder与将来X射线衍射方面的开发兼容。
仪器简介
仪器简介:
X'Pert Powder,配置超能阵列探测器,速度与强度的理想组合,满足各种粉末应用要求,具有无限扩展性。
超高频X射线发生器
采用第二代陶瓷X光管专利技术,通过精密机械加工使阳极靶材三维高精度定位,用户在更换X光管后无需重新校准路
立式测角仪,采用DOPS直接光学位置编码专利技术
技术参数:
1,功率:3kW
2,测角仪重现性:0.0001度
3,设备尺寸:1975×1132×1371 mm
(H×D×W)
主要特点:
灵活——无论是工业生产控制还是深入的材料研究,均可根据单独的带药求进行定制。从未知物相鉴定和混合物定量,到诸如残余应力和晶粒择优取向的微观结构属性测定,系统的应用不受任何限制,在所有领域都体现出高性能。在常温或非环境温度条件下,均可对块状材料以及薄膜进行分析。
快速——得益于帕纳科荣获专利的光学部件和平台PreFIX-即预校准光路的安装方法,只需几分钟即可完成重新配置并执行不同类型的分析。
前瞻性——如果出现新的应用,只需增加必要的模块即可。开放式硬件设计结构确保了X'Pert
Powder与将来X射线衍射方面的开发兼容。