仪器型号：S4800

制造厂商：日立

一、基本功能

1.场发射扫描电镜具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子象、反射电子象观察及图像处理。 具有高性能x射线能谱仪，能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化学组分综合分析能力。场发射扫描电子显微镜，广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。该仪器的最大特点是具备超高分辨扫描图像观察能力，尤其是采用最新数字化图像处理技术，提供高倍数、高分辨扫描图像，并能即时打印或存盘输出，是纳米材料粒径测试和形貌观察最有效仪器。也是研究材料结构与性能关系所不可缺少的重要工具。

2.各种元素具有自己的X射线特征波长，特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E，X射线能谱仪就是利用不同元素X射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。

二、技术参数

1.二次电子图像分辨率：为1.0nm（15kv），2.0nm（1kv），1.4nm（1kv，减速模式）

2.背散射电子图像分辨率为：3.5nm(30kv)，灵敏度达0.1Z

3.加速电压：0.5～30kv，0.1kv/步

4.放大倍率为：×20～×800,000

5.电子枪： ：冷场发射电子源

6.探测器： ：低位/高位二次电子探测器

7.样品最大尺寸：100mm

8.X射线能谱仪

9.探测器：标准与高级两种

10.分辨率/有效面积：133eV，10mm2/133eV，10mm2

11.接口：IEEE 1394 PCI

12.电源 ：AC220V±10%，50/60Hz，地线：100Ω以下

13.重量：约93kg

14.外形尺寸：800(W)×800(D)×1500(H)mm

三、应用范围

可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。

四、收费标准

五、测试案例

仪器型号：S4800

制造厂商：日立

一、基本功能

1.场发射扫描电镜具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子象、反射电子象观察及图像处理。 具有高性能x射线能谱仪，能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化学组分综合分析能力。场发射扫描电子显微镜，广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。该仪器的最大特点是具备超高分辨扫描图像观察能力，尤其是采用最新数字化图像处理技术，提供高倍数、高分辨扫描图像，并能即时打印或存盘输出，是纳米材料粒径测试和形貌观察最有效仪器。也是研究材料结构与性能关系所不可缺少的重要工具。

2.各种元素具有自己的X射线特征波长，特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E，X射线能谱仪就是利用不同元素X射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。

二、技术参数

1.二次电子图像分辨率：为1.0nm（15kv），2.0nm（1kv），1.4nm（1kv，减速模式）

2.背散射电子图像分辨率为：3.5nm(30kv)，灵敏度达0.1Z

3.加速电压：0.5～30kv，0.1kv/步

4.放大倍率为：×20～×800,000

5.电子枪： ：冷场发射电子源

6.探测器： ：低位/高位二次电子探测器

7.样品最大尺寸：100mm

8.X射线能谱仪

9.探测器：标准与高级两种

10.分辨率/有效面积：133eV，10mm2/133eV，10mm2

11.接口：IEEE 1394 PCI

12.电源 ：AC220V±10%，50/60Hz，地线：100Ω以下

13.重量：约93kg

14.外形尺寸：800(W)×800(D)×1500(H)mm

三、应用范围

可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。

四、收费标准

五、测试案例

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