一.X射线衍射仪基本介绍：
组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。

二.X射线衍射仪技术参数：
1.X射线发生器功率为3KW。
2.测角仪为水平测角仪。
3.测角仪最小步进为1/10000度。
4.测角仪配程序式可变狭缝。
5.高反射效率的石墨单色器。
6.CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有）。
7.小角散射测试组件。
8.多用途薄膜测试组件。
9.微区测试组件。
10.In-Plane测试组件（理学独有）。
11.高速探测器D/teX-Ultra。
12.X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC。
13.分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等。

三.X射线衍射仪应用范围：
1.粉末样品的物相定性与定量分析。
2.计算结晶化度、晶粒大小。
3.确定晶系、晶粒大小与畸变。
4.Rietveld结构分析。
5.薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度。
6.In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构。
7.小角散射与纳米材料粒径分布。
8.微区样品的分析。

一.X射线衍射仪基本介绍：
组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。

二.X射线衍射仪技术参数：
1.X射线发生器功率为3KW。
2.测角仪为水平测角仪。
3.测角仪最小步进为1/10000度。
4.测角仪配程序式可变狭缝。
5.高反射效率的石墨单色器。
6.CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有）。
7.小角散射测试组件。
8.多用途薄膜测试组件。
9.微区测试组件。
10.In-Plane测试组件（理学独有）。
11.高速探测器D/teX-Ultra。
12.X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC。
13.分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等。

三.X射线衍射仪应用范围：
1.粉末样品的物相定性与定量分析。
2.计算结晶化度、晶粒大小。
3.确定晶系、晶粒大小与畸变。
4.Rietveld结构分析。
5.薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度。
6.In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构。
7.小角散射与纳米材料粒径分布。
8.微区样品的分析。

1、样品形态要求为固体或粉末，固体测面磨平；粉末要求200目（74微米）以下。 

2、样品量：固体要求2x2x2mm 以下，粉末要求1g以上最好。

3、不接收有毒、有辐射的样品。