非接触式光学三维全场应变测量分析系统
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品 牌
苏州西博
型 号XTDIC
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模 式
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选 项
- 地 址
江苏 苏州
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价 格
800
- 联系人:易科学客服
- 联系电话:400-086-3999 转 801
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- 详细介绍
仪器简介
XTDIC数字散斑全场应变变形测量分析系统结合数字图像相关技术(DIC)与双目立体视觉技术,通过追踪物体表面的散斑图像,实现变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量,具有便携,速度快,精度高、易操作等特点。与双目体式显微镜技术结合,实现微小物体变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量。
技术原理及应用流程
仪器参数
常规配置参数:
系统 | XTDIC–SD | XTDIC–HR | XTDIC–HS |
相机参数 | 230万像素 | 500万像素 | 200万像素 |
测量范围 | mm2~m2 | mm2~m2 | mm2~m2 |
视频采集帧频 | 40 帧/s | 60帧/s | 340帧/s |
应变测量范围 | 0.01%~1000% | 0.01%~2000% | 0.01%~2000% |
应变测量精度 | 0.005% | 0.005% | 0.005% |
照明光源 | 集成 | 集成 | 外置 |
操作系统 | XP、Win7/8/10 | XP、Win7/8/10 | XP、Win7/8/10 |
工作温度 | 5-40°C | 5-40°C | 5-40°C |
检测项目
复合材料大变形拉伸实验
泡沫材料大变形压缩实验
裂缝生长实验
木材变形测量实验
疲劳实验
测量材料FLC曲线
砂土变形测量
岩石破裂变形实验
一体化改造结构抗震对比实验
有限元分析(FEA)验证
可得结果部分汇总:
结果示例
仪器简介
XTDIC数字散斑全场应变变形测量分析系统结合数字图像相关技术(DIC)与双目立体视觉技术,通过追踪物体表面的散斑图像,实现变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量,具有便携,速度快,精度高、易操作等特点。与双目体式显微镜技术结合,实现微小物体变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量。
技术原理及应用流程
仪器参数
常规配置参数:
系统 | XTDIC–SD | XTDIC–HR | XTDIC–HS |
相机参数 | 230万像素 | 500万像素 | 200万像素 |
测量范围 | mm2~m2 | mm2~m2 | mm2~m2 |
视频采集帧频 | 40 帧/s | 60帧/s | 340帧/s |
应变测量范围 | 0.01%~1000% | 0.01%~2000% | 0.01%~2000% |
应变测量精度 | 0.005% | 0.005% | 0.005% |
照明光源 | 集成 | 集成 | 外置 |
操作系统 | XP、Win7/8/10 | XP、Win7/8/10 | XP、Win7/8/10 |
工作温度 | 5-40°C | 5-40°C | 5-40°C |