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非接触式光学三维全场应变测量分析系统

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非接触式光学三维全场应变测量分析系统

  • 品 牌

    苏州西博

    型 号

    XTDIC

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        江苏 苏州

      • 价 格

        800

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  • 详细介绍
仪器简介

  XTDIC数字散斑全场应变变形测量分析系统结合数字图像相关技术(DIC)与双目立体视觉技术,通过追踪物体表面的散斑图像,实现变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量,具有便携,速度快,精度高、易操作等特点。与双目体式显微镜技术结合,实现微小物体变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量。

技术原理及应用流程

                                                             2311.png

仪器参数

常规配置参数:

系统

XTDIC–SD

XTDIC–HR

XTDIC–HS

相机参数

230万像素

500万像素

200万像素

测量范围

mm2~m2

mm2~m2

mm2~m2

视频采集帧频

40 帧/s

60帧/s

340帧/s

应变测量范围

0.01%~1000%

0.01%~2000%

0.01%~2000%

应变测量精度

0.005%

0.005%

0.005%

照明光源

集成

集成

外置

操作系统

XP、Win7/8/10

XP、Win7/8/10

XP、Win7/8/10

工作温度

5-40°C

5-40°C

5-40°C


检测项目

  1. 复合材料大变形拉伸实验

  2. 泡沫材料大变形压缩实验 

  3. 裂缝生长实验

  4. 木材变形测量实验

  5. 疲劳实验

  6. 测量材料FLC曲线

  7. 砂土变形测量

  8. 岩石破裂变形实验

  9. 一体化改造结构抗震对比实验

  10. 有限元分析(FEA)验证


可得结果部分汇总:

功能.jpg

结果示例

XTDIC泡沫材料大变形压缩实验.jpg

大变形拉伸最大及最小主应变测量结果.jpg

XTDIC试件测量案例.jpg

仪器简介

  XTDIC数字散斑全场应变变形测量分析系统结合数字图像相关技术(DIC)与双目立体视觉技术,通过追踪物体表面的散斑图像,实现变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量,具有便携,速度快,精度高、易操作等特点。与双目体式显微镜技术结合,实现微小物体变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量。

技术原理及应用流程

                                                             2311.png

仪器参数

常规配置参数:

系统

XTDIC–SD

XTDIC–HR

XTDIC–HS

相机参数

230万像素

500万像素

200万像素

测量范围

mm2~m2

mm2~m2

mm2~m2

视频采集帧频

40 帧/s

60帧/s

340帧/s

应变测量范围

0.01%~1000%

0.01%~2000%

0.01%~2000%

应变测量精度

0.005%

0.005%

0.005%

照明光源

集成

集成

外置

操作系统

XP、Win7/8/10

XP、Win7/8/10

XP、Win7/8/10

工作温度

5-40°C

5-40°C

5-40°C


测试项目
  1. 复合材料大变形拉伸实验

  2. 泡沫材料大变形压缩实验 

  3. 裂缝生长实验

  4. 木材变形测量实验

  5. 疲劳实验

  6. 测量材料FLC曲线

  7. 砂土变形测量

  8. 岩石破裂变形实验

  9. 一体化改造结构抗震对比实验

  10. 有限元分析(FEA)验证


可得结果部分汇总:

功能.jpg

结果实例

XTDIC泡沫材料大变形压缩实验.jpg

大变形拉伸最大及最小主应变测量结果.jpg

XTDIC试件测量案例.jpg

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下单须知

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2、设备配置与试验需求关联性较大,价格存在较大差异
3、本司可提供技术人员现场服务

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