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电子合同
X光电子能谱仪（XPS）
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品 牌
美国 Thermo Scientific
型 号ESCALAB 250XI
-
模 式
-
选 项
- 地 址
广东 广州
-
价 格
260
- 联系人：易科学客服
- 联系电话：400-086-3999 转 801
-
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- 详细介绍
仪器简介
X射线光电子能谱技术（XPS）是电子材料 与元器件显微分析中的一种先进分析技术，而且是和俄歇电子能谱技术（AES）常常配合使用的分析技术。由于它可以比俄歇电子能谱技术更准确地测量原子的内层电子束缚能及其化学位移，所以它不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息，还能为电子材料研究提供各种化合物的元素组成和含量、 化学状态、分子结构、 化学键方面的信息。它在分析电子材料时，不但可提供总体方面的化学信息，还能给出表面、微小区域和深度分布方面 的信息。 另外，因为 入射到样品表面的X射线束是一种光子束，所以对样品的破坏性非常小。这一点对分析有机材料和高分子材料非常有利。
仪器参数
性能参数:
X 射线源：能量：1-15KV;
靶（阳极）：双阳极（标准）;
靶材料：Mg/Al;
功率：最大0.45kw 电子能量分析器：类型： 180o 半球和球镜组合;
平均半径：165mm 分析器电子学：固定分析器传输-FAT 扫描，固定阻滞率-FRR(可选)、能量范围：0-3200ev， 0-1500ev（高分辨）;
通能：可编程，5-320ev 分析室：15 个指向分析点，267mm 直径;
磁屏蔽：双层μ金属;
真空度：7×10-8Pa，2×10-8Pa 样品操控：样品台：XYZθ（自动/手动）;
样品个数：1/10/可变;
电子源（可选）：能量：10kev;
工作距离：26mm;
放大率：×25-150000 单色器：500mm 罗兰圆;
晶体：石英;
功率：最大0.450kw
检测项目
主要功能和用途:
该仪器主要用固体样品表面化学组成、化学元素像、化学价态、价带结构、晶体结构分析及深度剖析。 可进行金属、合金中夹杂物成分分析，炉渣、矿相、材料中元素及其在体相中的深度分布分析等，能给出 逐层元素变化的具体信息（包括价态、含量、分布及元素的图像）。适用于非放射性和非挥发性金属、合金等导体、半导体、绝缘体，粉末、薄膜等
样品要求
结果示例
仪器简介
X射线光电子能谱技术（XPS）是电子材料 与元器件显微分析中的一种先进分析技术，而且是和俄歇电子能谱技术（AES）常常配合使用的分析技术。由于它可以比俄歇电子能谱技术更准确地测量原子的内层电子束缚能及其化学位移，所以它不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息，还能为电子材料研究提供各种化合物的元素组成和含量、 化学状态、分子结构、 化学键方面的信息。它在分析电子材料时，不但可提供总体方面的化学信息，还能给出表面、微小区域和深度分布方面 的信息。 另外，因为 入射到样品表面的X射线束是一种光子束，所以对样品的破坏性非常小。这一点对分析有机材料和高分子材料非常有利。
仪器参数
性能参数:
X 射线源：能量：1-15KV;
靶（阳极）：双阳极（标准）;
靶材料：Mg/Al;
功率：最大0.45kw 电子能量分析器：类型： 180o 半球和球镜组合;
平均半径：165mm 分析器电子学：固定分析器传输-FAT 扫描，固定阻滞率-FRR(可选)、能量范围：0-3200ev， 0-1500ev（高分辨）;
通能：可编程，5-320ev 分析室：15 个指向分析点，267mm 直径;
磁屏蔽：双层μ金属;
真空度：7×10-8Pa，2×10-8Pa 样品操控：样品台：XYZθ（自动/手动）;
样品个数：1/10/可变;
电子源（可选）：能量：10kev;
工作距离：26mm;
放大率：×25-150000 单色器：500mm 罗兰圆;
晶体：石英;
功率：最大0.450kw
测试项目
主要功能和用途:
该仪器主要用固体样品表面化学组成、化学元素像、化学价态、价带结构、晶体结构分析及深度剖析。 可进行金属、合金中夹杂物成分分析，炉渣、矿相、材料中元素及其在体相中的深度分布分析等，能给出 逐层元素变化的具体信息（包括价态、含量、分布及元素的图像）。适用于非放射性和非挥发性金属、合金等导体、半导体、绝缘体，粉末、薄膜等
样品要求
无水分，粉末样品最好压片，样品越小越好。粉末提供5mg,块体尺寸不大于5mm-5mm-3mm
结果实例
相关附件
委托合同.docXPS测试_XPS检测_X射线光电子能谱仪
原理
X射线光电子能谱（XPS），基于光电离作用，当一束光子辐射到样品表面时，光子可以被样品中某一元素的原子轨道上的电子所吸收，使该原子解脱原子核的束缚，以一定的动能从原子内部发射出来，变成自由的光电子，而原子本身则变成一个激发态的离子。当固定激发源能量时，其光电子的能量仅与元素的种类和所电离激发的原子轨道有关，由此根据光电子的结合能定性分析物质的元素种类。经X射线辐照后，从样品表面射出的光电子的强度与样品中该原子的浓度呈线性关系，可以进一步进行元素的半定量分析。另外，XPS的重要应用是对元素的化学价态进行分析。
仪器技术参数
离子源：100-4000eV
束斑直径：1-10mm
溅射速率范围：0.1-50nm/min
采样深度：金属0.5-2nm，无机物1-3nm，有机物3-10nm
送样要求
固体粉末：均匀干燥，粒度小于70um（过200目），质量不少于100 mg；
块体、金属及薄膜样，长宽小于10mm，高度小于5mm。
对含有挥发性、油污污染物的样品许提前去除，绝对禁止分析带有磁性的样品。
应用
在化学、材料科学及表面科学中具有广泛的应用价值。
1、 表面元素定性分析
2、 表面元素的半定量分析
3、 表面元素的化学价态分析
4、 元素沿深度方向的分布分析
常见谱图
常见适用标准
ISO 16531-2013 表面化学分析.深度剖析.原子发射光谱(AES)和光电子能谱(XPS)中深度剖析用电流或电流密度的离子束校正和相关测量方法
专业、高效、精准、高性价比是广州化联质量检测技术有限公司的服务宗旨。
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