扫描电子显微镜(SEM)
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品 牌
蔡司
型 号Merlin Compact
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模 式
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选 项
- 地 址
北京
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价 格
375.00元/小时
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开 放
时 间
- 联系人:易科学客服
- 联系电话:400-086-3999 转 801
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- 详细介绍
仪器简介
ZEISS的MERLIN Compact场发射扫描电镜全部采用新一代专利镜筒(GEMINI)设计,具有优良的高、低加速电压性能;创新的InlensDuo探测器设计是目前世界上唯一真正的内置镜筒电子束光路上的探测器。
仪器参数
扫描电子显微镜仪器参数:
加速电压:0.05-30kV;
探测器:SE2,InlensDuo,BSE;
分辨率:1.0nm/15kV,1.7nm/1kV;
能谱探测范围:B4-U92.
检测项目
扫描电子显微镜适用于:
固体/粉末样品形貌观察,二次电子像,背散射像。能谱分析(元素范围:Be-U)
样品要求
仪器简介
ZEISS的MERLIN Compact场发射扫描电镜全部采用新一代专利镜筒(GEMINI)设计,具有优良的高、低加速电压性能;创新的InlensDuo探测器设计是目前世界上唯一真正的内置镜筒电子束光路上的探测器。
仪器参数
扫描电子显微镜仪器参数:
加速电压:0.05-30kV;
探测器:SE2,InlensDuo,BSE;
分辨率:1.0nm/15kV,1.7nm/1kV;
能谱探测范围:B4-U92.
测试项目
扫描电子显微镜适用于:
固体/粉末样品形貌观察,二次电子像,背散射像。能谱分析(元素范围:Be-U)
样品要求
扫描电子显微镜对样品要求:
粉末、块体材料。块体样品横向尺寸小于40mm,高度低于7mm。
样品不能有磁性。