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X射线荧光光谱仪XRF(北京)

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X射线荧光光谱仪XRF(北京)

  • 品 牌

    帕纳科

    型 号

    AxiosmAX

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        北京

      • 价 格

        200

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  • 详细介绍
仪器简介

AxiosmAX系列X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence XRF)是非破坏性,准确和可重现性的XRF元素分析。

X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚,释放出来,电子的逐放会导致该电子可曾出现相应当电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应当电子空位。由于不同电子壳层之间存在能量差距,这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来,不同元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性—特征波长(定性分析基础);依据谱线强度与元素含量的比例关系进行定量分析。


仪器参数

 X射线荧光光谱仪(XRF)的仪器参数:

分析范围:O(8)-U(92);含量范围:PPM-100%

SST-mAX无衰减X光管及固态高压发生器功率:4KW,60KW,160mA

DOPS直接光学定位测角仪精确率:0.0001o

晶体:LiF200;PX-1;PE002,Ge111;LiF220;扫描方式:顺序扫描

探测器:流气式:3000kCPS;闪烁式:1500 Kcps


检测项目

 X射线荧光光谱仪(XRF)用于粉末,块状,粉末压片,熔片,金属非金属样品,空气滤膜等样品元素成分的定性定量分析以及无标样半定量分析,无损分析。

分析范围O(8)-U(92);含量范围:PPM-100%。

样品要求
仪器简介

AxiosmAX系列X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence XRF)是非破坏性,准确和可重现性的XRF元素分析。

X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚,释放出来,电子的逐放会导致该电子可曾出现相应当电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应当电子空位。由于不同电子壳层之间存在能量差距,这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来,不同元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性—特征波长(定性分析基础);依据谱线强度与元素含量的比例关系进行定量分析。


仪器参数

 X射线荧光光谱仪(XRF)的仪器参数:

分析范围:O(8)-U(92);含量范围:PPM-100%

SST-mAX无衰减X光管及固态高压发生器功率:4KW,60KW,160mA

DOPS直接光学定位测角仪精确率:0.0001o

晶体:LiF200;PX-1;PE002,Ge111;LiF220;扫描方式:顺序扫描

探测器:流气式:3000kCPS;闪烁式:1500 Kcps


测试项目

 X射线荧光光谱仪(XRF)用于粉末,块状,粉末压片,熔片,金属非金属样品,空气滤膜等样品元素成分的定性定量分析以及无标样半定量分析,无损分析。

分析范围O(8)-U(92);含量范围:PPM-100%。

样品要求

 X射线荧光光谱仪(XRF)对样品要求:

试样在X射线照射下应该稳定、不变形、不引起化学变化。

固体:尺寸要求(mm) 长×宽:10×10mm~200×200mm  高:<100mm

粉末: 波散方法,样品均匀、粒度>200目   样品量>0.5g

           能散方法,样品均匀、粒度>200目   样品量>0.2g  。

液体:样品无挥发性、腐蚀性。


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项老师

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下单须知

X射线荧光光谱仪XRF(北京)

X射线荧光光谱仪(XRF)对样品要求:
试样在X射线照射下应该稳定、不变形、不引起化学变化。
固体:尺寸要求(mm) 长×宽:10×10mm~200×200mm 高:<100mm
粉末: 波散方法,样品均匀、粒度>200目 样品量>0.5g
能散方法,样品均匀、粒度>200目 样品量>0.2g 。
液体:样品无挥发性、腐蚀性。

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