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X射线光电子能谱仪（XPS）（北京）
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品 牌
赛默飞
型 号EscaLab 250Xi
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模 式
-
选 项
- 地 址
北京
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价 格
260
- 联系人：易科学客服
- 联系电话：400-086-3999 转 801
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- 详细介绍
仪器简介
Escalab 250Xi型电子能谱仪是一台多功能高性能的表面分析仪器，它可以用于研究各种固体材料样品表面（1-10nm厚度）的元素种类、化学价态以及相对含量。结合离子刻蚀技术还可以获得元素及化学态深度分布信息；通过成像技术可以获得元素及化学态的面分布信息；利用微聚焦X射线源或电子束可以获得微区表面信息。在金属、玻璃、高分子、半导体、纳米材料、生物材料以及催化等领域有广泛应用。本仪器以X射线光电子能谱为主要功能，还带有俄歇电子能谱、紫外光电子能谱、反射电子能量损失谱及离子散射谱等附件功能。
仪器参数
X射线光电子能谱仪（XPS）仪器参数：
1． 常规XPS，鉴别样品表面的元素种类、化学价态以及相对含量。双阳极XPS，更适合用于不同的特殊过渡金属元素的研究，如催化领域。
2． 微区XPS分析（单色化XPS），用于样品微区（＞20μm）表面成分分析，高能量分辨的化学态分析
3． 深度剖析XPS，结合离子刻蚀技术对样品（如薄膜等）进行成分深度分布分析。通过角分辨XPS还可以进行非损伤成分深度分布分析。
4． XPS成像，可以对元素或化学态进行表面面分布分析，使一些分析结果更直观。
5． 反射电子能量损失谱REELS技术，可实现氢元素的检测。
6． 离子能量损失谱ISS，可实现样品表面元素信息的检测
7． 场发射俄歇AES，可实现样品表面100nm尺寸下的元素信息检测。可以进行成分分析、形貌像分析及扫描俄歇像分析等。
8． 紫外光电子能谱（UPS），可以获得样品价带谱信息，对导体、半导体的能带、带隙等分析提供主要数据。还可以分析样品逸出功等。
检测项目
X射线光电子能谱仪（XPS）被广泛应用于分析无机化合物、合金、半导体、聚合物、元素、催化剂、玻璃、陶瓷、染料、纸、墨水、木材、化妆品、牙齿、骨骼、移植物、生物材料、油脂、胶水等。
样品要求
仪器简介
Escalab 250Xi型电子能谱仪是一台多功能高性能的表面分析仪器，它可以用于研究各种固体材料样品表面（1-10nm厚度）的元素种类、化学价态以及相对含量。结合离子刻蚀技术还可以获得元素及化学态深度分布信息；通过成像技术可以获得元素及化学态的面分布信息；利用微聚焦X射线源或电子束可以获得微区表面信息。在金属、玻璃、高分子、半导体、纳米材料、生物材料以及催化等领域有广泛应用。本仪器以X射线光电子能谱为主要功能，还带有俄歇电子能谱、紫外光电子能谱、反射电子能量损失谱及离子散射谱等附件功能。
仪器参数
X射线光电子能谱仪（XPS）仪器参数：
1． 常规XPS，鉴别样品表面的元素种类、化学价态以及相对含量。双阳极XPS，更适合用于不同的特殊过渡金属元素的研究，如催化领域。
2． 微区XPS分析（单色化XPS），用于样品微区（＞20μm）表面成分分析，高能量分辨的化学态分析
3． 深度剖析XPS，结合离子刻蚀技术对样品（如薄膜等）进行成分深度分布分析。通过角分辨XPS还可以进行非损伤成分深度分布分析。
4． XPS成像，可以对元素或化学态进行表面面分布分析，使一些分析结果更直观。
5． 反射电子能量损失谱REELS技术，可实现氢元素的检测。
6． 离子能量损失谱ISS，可实现样品表面元素信息的检测
7． 场发射俄歇AES，可实现样品表面100nm尺寸下的元素信息检测。可以进行成分分析、形貌像分析及扫描俄歇像分析等。
8． 紫外光电子能谱（UPS），可以获得样品价带谱信息，对导体、半导体的能带、带隙等分析提供主要数据。还可以分析样品逸出功等。
测试项目
样品要求
X射线光电子能谱仪（XPS）对样品要求：
(1)粉末、大颗粒、小圆棒：体积大于0.2ml;如果需要压片时(有利于做定量分析)，送样量(体积)应适当增加到0.75-1ml；
(2)薄膜、片状、块体：长X 宽尺寸在~6mmX6mm到10mm X10mm以内;厚度不大于3mm。
(3)UPS测试样品要求：非绝缘样品，粉末样品，高<3mm,长高7-10mm。
结果实例
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