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高分辨透射电子显微镜(TEM)

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高分辨透射电子显微镜(TEM)

  • 品 牌

    JEOL

    型 号

    JEM-2100

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        北京

      • 价 格

        400

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  • 详细介绍
仪器简介

高分辨透射电子显微镜(TEM),JEM-2100 是日本JEOL公司制造的高分辨率分析电子显微镜。

可进行纳米材料形貌观察、高分辨率图像采集、微区能谱分析、电子衍射晶体结构分析等分析,可进行低倍及高分辨图像的观察;

配备单倾及双倾样品杆,可利用电子衍射进行多晶及单晶样品晶体结构的分析;

配备EDS能谱仪可同时对样品元素组成进行选区分析。

仪器参数

LaB6灯丝,

加速电压200kV,

点分辨率0.23nm,

线分辨率0.14nm,

色差系数1.1mm。

放大倍数在50倍-1,500,000倍之间。

高分辨物镜极靴(HR),

高衬度物镜光阑,

CCD照相。

检测项目

主要检测对象为金属、矿物、半导体、超导体、无机化合物等固体纳米材料。

检测内容包括:

样品的形貌,晶体结构及元素组成,含质厚衬度像、明场衍射衬像、暗场衍射衬像、晶体条纹像、电子衍射图像、能谱等。

样品要求
结果示例

1.低倍成像:透射电子显微镜将加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因而透射到荧光屏上的各点强度是不均匀的,这种强度的不均匀分布现象就称为衬度,所获得的电子像称为透射电子衬度像。

(1)碳纳米材料

image.png

(2)复合纳米材料

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2.高分辨成像:当透射束与衍射束重新组合并保持它们各自的振幅和位相时,则可获得衍射晶面的晶格像,或者一个个原子的晶体结构像,即相位衬度像,包括高分辨像和原子序数衬度像,相位衬度成像基于phase object approximation (POA)理论。

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3.电子衍射分析晶体结构。

(1)多晶选区电子衍射:多晶是一个颗粒里面有多个晶粒,每个晶粒的晶格都是周期性排列的,但这些晶粒的取向是随意的。于是一个晶粒产生一些衍射点,衍射点出现在晶格对应的d值为半径的圆上,多个晶粒有不同取向,就会慢慢形成多个点连成的一个圆,选区范围内的颗粒含的晶粒越多,那么这个圆上的点就越密集,越平滑。而这个圆就对应于该相在XRD里面的衍射峰位置一致。如果是纯相,测量每个环对应的半径可计算d值,其与衍射峰对应的d值是相同的。

                                             image.png

(2)单晶选区电子衍射:单晶就是具有完整晶体外形(晶棱,晶面完备)的单个颗粒,颗粒内部的晶格是周期排列,从任意晶带轴投射可得到二维衍射点阵。

                   image.png

4.EDS元素组成分析:透射电子显微镜能量色散谱仪(EDS)探头接受特征X射线信号后把特征X射线光信号转变成具有不同高度的电脉冲信号,经过放大器放大信号后多道脉冲分析器把代表不同能量(波长)X射线的脉冲信号按高度编入不同频道,最终在荧光屏上显示谱线并利用计算机进行定性和定量计算。

      image.png

仪器简介

高分辨透射电子显微镜(TEM),JEM-2100 是日本JEOL公司制造的高分辨率分析电子显微镜。

可进行纳米材料形貌观察、高分辨率图像采集、微区能谱分析、电子衍射晶体结构分析等分析,可进行低倍及高分辨图像的观察;

配备单倾及双倾样品杆,可利用电子衍射进行多晶及单晶样品晶体结构的分析;

配备EDS能谱仪可同时对样品元素组成进行选区分析。

仪器参数

LaB6灯丝,

加速电压200kV,

点分辨率0.23nm,

线分辨率0.14nm,

色差系数1.1mm。

放大倍数在50倍-1,500,000倍之间。

高分辨物镜极靴(HR),

高衬度物镜光阑,

CCD照相。

测试项目

主要检测对象为金属、矿物、半导体、超导体、无机化合物等固体纳米材料。

检测内容包括:

样品的形貌,晶体结构及元素组成,含质厚衬度像、明场衍射衬像、暗场衍射衬像、晶体条纹像、电子衍射图像、能谱等。

样品要求

样品尺寸:透射电镜能够观察200nm以下的样品;

块体样品,要求样品大小为直径3mm的圆,厚度为200nm以下;

高分辨样品要求厚度在10nm以下;

样品状态:对于粉末和液体样品,要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥。


结果实例

1.低倍成像:透射电子显微镜将加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因而透射到荧光屏上的各点强度是不均匀的,这种强度的不均匀分布现象就称为衬度,所获得的电子像称为透射电子衬度像。

(1)碳纳米材料

image.png

(2)复合纳米材料

image.png

2.高分辨成像:当透射束与衍射束重新组合并保持它们各自的振幅和位相时,则可获得衍射晶面的晶格像,或者一个个原子的晶体结构像,即相位衬度像,包括高分辨像和原子序数衬度像,相位衬度成像基于phase object approximation (POA)理论。

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3.电子衍射分析晶体结构。

(1)多晶选区电子衍射:多晶是一个颗粒里面有多个晶粒,每个晶粒的晶格都是周期性排列的,但这些晶粒的取向是随意的。于是一个晶粒产生一些衍射点,衍射点出现在晶格对应的d值为半径的圆上,多个晶粒有不同取向,就会慢慢形成多个点连成的一个圆,选区范围内的颗粒含的晶粒越多,那么这个圆上的点就越密集,越平滑。而这个圆就对应于该相在XRD里面的衍射峰位置一致。如果是纯相,测量每个环对应的半径可计算d值,其与衍射峰对应的d值是相同的。

                                             image.png

(2)单晶选区电子衍射:单晶就是具有完整晶体外形(晶棱,晶面完备)的单个颗粒,颗粒内部的晶格是周期排列,从任意晶带轴投射可得到二维衍射点阵。

                   image.png

4.EDS元素组成分析:透射电子显微镜能量色散谱仪(EDS)探头接受特征X射线信号后把特征X射线光信号转变成具有不同高度的电脉冲信号,经过放大器放大信号后多道脉冲分析器把代表不同能量(波长)X射线的脉冲信号按高度编入不同频道,最终在荧光屏上显示谱线并利用计算机进行定性和定量计算。

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应用领域

物理学、化学、生物学、材料科学、矿物学、地质、选矿、冶金工程等领域。

易科学优势

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下单须知

高分辨透射电子显微镜(TEM)

1.不接受磁性样品;
2.粉末、液体样品均可,需要离子减薄、电解双喷、FIB、切片制样请在线联系我们。
3.现场观察的实验,需自己提前制好样品。

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