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电子合同
透射电子显微镜（TEM）
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品 牌
日本高科
型 号HT7700
-
模 式
-
选 项
- 地 址
北京
-
价 格
300
- 联系人：易科学客服
- 联系电话：400-086-3999 转 801
-
*联系我时请说明是在易科学看到的，谢谢！
- 详细介绍
仪器简介
透射电子显微镜（TEM）仪器简介：
由于受电镜高压限制，透射电子束一般只能穿透厚度为几十纳米以下的薄层样品。
除微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴样外，其它样品的制备方法主要有物理减薄（离子和双喷减薄等）和超薄切片法。
一般情况下，需要采用物理减薄法的样品制备过程。超薄切片样品的制备，需经样品前处理、包埋、切片等复杂工序。
仪器参数
透射电子显微镜（TEM）仪器参数：
最高加速电压为120 KV，具有高分辨及高衬度两种观察模式；
分辨率：100 KV，Au晶格像，0.24 nm；
最高放大倍数：60万倍；
本台透射电镜利用荧光屏CCD进行样品观察，无需暗室，改善了观察时的工作环境；配有能谱仪：EDAX，可以实现Be-U范围的元素点分析。
检测项目
透射电子显微镜（TEM）的应用：
透射电子显微镜利用高速透射电子成像，可以实现纳米材料形貌、结构及微区成分的表征，是纳米研究中基本的研究手段之一。广泛的应用于各种无机纳米材料，高分子纳米材料以及生物材料的研究。
样品要求
仪器简介
透射电子显微镜（TEM）仪器简介：
由于受电镜高压限制，透射电子束一般只能穿透厚度为几十纳米以下的薄层样品。
除微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴样外，其它样品的制备方法主要有物理减薄（离子和双喷减薄等）和超薄切片法。
一般情况下，需要采用物理减薄法的样品制备过程。超薄切片样品的制备，需经样品前处理、包埋、切片等复杂工序。
仪器参数
透射电子显微镜（TEM）仪器参数：
最高加速电压为120 KV，具有高分辨及高衬度两种观察模式；
分辨率：100 KV，Au晶格像，0.24 nm；
最高放大倍数：60万倍；
本台透射电镜利用荧光屏CCD进行样品观察，无需暗室，改善了观察时的工作环境；配有能谱仪：EDAX，可以实现Be-U范围的元素点分析。
测试项目
透射电子显微镜（TEM）的应用：
透射电子显微镜利用高速透射电子成像，可以实现纳米材料形貌、结构及微区成分的表征，是纳米研究中基本的研究手段之一。广泛的应用于各种无机纳米材料，高分子纳米材料以及生物材料的研究。
样品要求
透射电子显微镜（TEM）样品要求：
由于受电镜高压限制，透射电子束一般只能穿透厚度为几十纳米以下的薄层样品。
除微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴样外，其它样品的制备方法主要有物理减薄（离子和双喷减薄等）和超薄切片法。
一般情况下，需要采用物理减薄法的样品制备过程。超薄切片样品的制备，需经样品前处理、包埋、切片等复杂工序。
结果实例
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