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超高真空扫描探针显微镜(SPM)

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超高真空扫描探针显微镜(SPM)

  • 品 牌

    Omicron NanoTechnology

    型 号

    UHV AFM/STM

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        北京

      • 价 格

        80

    • 选 项

      • 地 址

        北京

      • 价 格

        80.00元/小时

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  • 详细介绍
仪器简介

服务简介

超高真空扫描探针显微镜(SPM)UHV SPM 是德国0micron Nano Technology 公司制造的超高真空扫描探针显微镜。空间分辨能力XY方向0.1~0.2nm,Z方向0.01nm;大尺寸扫描范围XY方向100µm及以上,Z方向10µm。具有STM成像功能、AFM成像功能(包括非接触AFM和间歇接触AFM),主要用于样品原子级形貌的表征。

技术指标

空间分辨能力XY方向0.1~0.2 nm,Z方向0.01 nm;

大尺寸扫描范围,XY方向100μm及以上,Z方向10μm;

温度控制范围为室温~300

真空度为10-8 Torr。

测试项目:

主要用于样品原子级形貌的表征,可实时、实空间、原位成像。

主要应用领域:

实现STM成像功能及AFM(包括非接触AFM和间歇接触AFM)成像功能等。

1.扫描隧道显微镜(STM)成像:扫描隧道显微镜是用一根探针慢慢地通过被分析的材料(针尖极为尖锐,仅仅由一个原子组成),一个小小的电荷被放置在探针上,一股电流从探针流出,利用电子隧道效应,通过整个材料,到底层表面。当探针通过单个的原子的过程中,电流有涨有落,如此便极其细致地探出单个原子的轮廓,在许多的流通后,通过绘出电流量的波动,可以得到单个原子阵列的图片。

                    image.png

2.原子力显微镜(AFM)成像:原子力显微镜是利用原子之间的范德华力作用来呈现样品的表面特性。当原子与原子很接近时,彼此电子云斥力的作用大于原子核与电子云之间的吸引力作用,所以整个协力表现为斥力的作用;反之若两原子分开有一定间隔时,其电子云斥力的作用小于彼此原子核与电子云之间的吸引力作用,故整个协力表现为引力的作用。原子力显微镜就是利用原子之间的范德华力作用来呈现样品的表面特性的。原子力显微镜中也利用斥力与吸引力的方式发展出两种操纵模式:

(1)利用原子斥力的变化而产生表面轮廓为接触式原子力显微镜(contact AFM);

(2)利用原子吸引力的变化而产生表面轮廓为非接触式原子力显微镜(non-contact AFM)。

 

                                                   image.png

样品要求
仪器简介

服务简介

超高真空扫描探针显微镜(SPM)UHV SPM 是德国0micron Nano Technology 公司制造的超高真空扫描探针显微镜。空间分辨能力XY方向0.1~0.2nm,Z方向0.01nm;大尺寸扫描范围XY方向100µm及以上,Z方向10µm。具有STM成像功能、AFM成像功能(包括非接触AFM和间歇接触AFM),主要用于样品原子级形貌的表征。

技术指标

空间分辨能力XY方向0.1~0.2 nm,Z方向0.01 nm;

大尺寸扫描范围,XY方向100μm及以上,Z方向10μm;

温度控制范围为室温~300

真空度为10-8 Torr。

测试项目:

主要用于样品原子级形貌的表征,可实时、实空间、原位成像。

主要应用领域:

实现STM成像功能及AFM(包括非接触AFM和间歇接触AFM)成像功能等。

1.扫描隧道显微镜(STM)成像:扫描隧道显微镜是用一根探针慢慢地通过被分析的材料(针尖极为尖锐,仅仅由一个原子组成),一个小小的电荷被放置在探针上,一股电流从探针流出,利用电子隧道效应,通过整个材料,到底层表面。当探针通过单个的原子的过程中,电流有涨有落,如此便极其细致地探出单个原子的轮廓,在许多的流通后,通过绘出电流量的波动,可以得到单个原子阵列的图片。

                    image.png

2.原子力显微镜(AFM)成像:原子力显微镜是利用原子之间的范德华力作用来呈现样品的表面特性。当原子与原子很接近时,彼此电子云斥力的作用大于原子核与电子云之间的吸引力作用,所以整个协力表现为斥力的作用;反之若两原子分开有一定间隔时,其电子云斥力的作用小于彼此原子核与电子云之间的吸引力作用,故整个协力表现为引力的作用。原子力显微镜就是利用原子之间的范德华力作用来呈现样品的表面特性的。原子力显微镜中也利用斥力与吸引力的方式发展出两种操纵模式:

(1)利用原子斥力的变化而产生表面轮廓为接触式原子力显微镜(contact AFM);

(2)利用原子吸引力的变化而产生表面轮廓为非接触式原子力显微镜(non-contact AFM)。

 

                                                   image.png

样品要求

对样品无特殊要求,不受其导电性、干燥度、形状、硬度、纯度等限制。

探针另计费或自带探针


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