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X射线粉末衍射仪(XRD)

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X射线粉末衍射仪(XRD)

  • 品 牌

    Shimadzu

    型 号

    XRD-6000

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        北京

      • 价 格

        200

    • 选 项

      • 地 址

        北京

      • 价 格

        200.00元/小时

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  • 详细介绍
仪器简介

XRD即X射线衍射,通常应用于晶体结构的分析。X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称之为衍射。散射波周相一致相互加强的方向称衍射方向,产生衍射线。

X射线对于晶体的衍射强度是由晶体晶胞中原子的元素种类、数目及其排列方式决定的。

X射线衍射仪是利用X射线衍射法对物质进行非破坏性分析的仪器,由X射线发生器、测角仪、X射线强度测量系统以及衍射仪控制与衍射数据采集、处理系统四大部分组成。

仪器参数

X-射线光源: 封闭管X-射线源,靶材Cu,工作电压60kV, 电流80mA。

测角仪:竖直测角仪θ-θ 几何。步进马达光学编码,2θ范围3-160°,精度±0.01°。最大转速16°/s。

标准水平样品台及高温样品台。

测角仪臂长185mm。

探测器:NaI点探测器,最大计数106。

检测项目

用于测试多晶样品在常温或高温下的衍射图。

通过对图谱的分析可以得到样品的物相组成、含量、晶粒大小、点阵常数及晶体结构的信息及其随温度的变化,进而可以在原子水平上理解材料的性能及温度对性能的影响。

样品要求
结果示例

XRD pattern at high temperature

image.png

仪器简介

XRD即X射线衍射,通常应用于晶体结构的分析。X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称之为衍射。散射波周相一致相互加强的方向称衍射方向,产生衍射线。

X射线对于晶体的衍射强度是由晶体晶胞中原子的元素种类、数目及其排列方式决定的。

X射线衍射仪是利用X射线衍射法对物质进行非破坏性分析的仪器,由X射线发生器、测角仪、X射线强度测量系统以及衍射仪控制与衍射数据采集、处理系统四大部分组成。

仪器参数

X-射线光源: 封闭管X-射线源,靶材Cu,工作电压60kV, 电流80mA。

测角仪:竖直测角仪θ-θ 几何。步进马达光学编码,2θ范围3-160°,精度±0.01°。最大转速16°/s。

标准水平样品台及高温样品台。

测角仪臂长185mm。

探测器:NaI点探测器,最大计数106。

测试项目

用于测试多晶样品在常温或高温下的衍射图。

通过对图谱的分析可以得到样品的物相组成、含量、晶粒大小、点阵常数及晶体结构的信息及其随温度的变化,进而可以在原子水平上理解材料的性能及温度对性能的影响。

样品要求

样品需制备成固体粉末(粒度200~300目);

样品用量为1g以上。


结果实例

XRD pattern at high temperature

image.png

应用范围

主要检测对象为结晶态的多晶样品。

检测内容包括晶体中原子的排列和分布、样品中物相的组成和含量、结晶颗粒的大小、点阵常数及其随温度的变化等。 

应用于化学、化工、物理、材料、制药等与晶体及其结构有关的领域。

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下单须知

X射线粉末衍射仪(XRD)

样品要求:
需制备成固体粉末(粒度200~300目);
样品用量为1g以上。

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