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扫描电子显微镜(SEM)

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扫描电子显微镜(SEM)

  • 品 牌

    Hitachi

    型 号

    S-3400N

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        四川 成都

      • 价 格

        100

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仪器简介

扫描电子显微镜(

英文名称

/
Hitachi S-3400N

30 kV)

30 kV). 

×300,000. 加速电压

应用领域

材料,粉体,矿物粒径大小,表面断面形貌分析材料晶型分析晶粒大小

功能特色

/


样品要求
仪器简介

仪器名称

扫描电子显微镜(SEM

英文名称

/

型号

Hitachi S-3400N

技术指标

分辨率: 30 kV3.0   nm(高真空模式)

背散射电子分辨率:30 kV4.0   nm(高真空模式). 

放大倍率×5~ ×300,000. 加速电压0.3   - 30 Kv.

应用领域

材料,粉体,矿物粒径大小,表面断面形貌分析填料分散状态复合材料结构材料晶型分析晶粒大小,材料物相分析。元素定性分析。

功能特色

/


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