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SEM,EDS,Mapping扫描电镜（最高五万倍-1um)
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品 牌
美国FEI；蔡司
型 号美国FEIInspect F50场发射扫描电子显微镜；蔡司evo18
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模 式
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选 项
- 地 址
北京
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价 格
70
- 联系人：易科学客服
- 联系电话：400-086-3999 转 801
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- 详细介绍
仪器简介
仪器简介：
在结构研究中, 大量的样品需要在高放大倍数、更多细节的水平上进行观察和分析。同时, 随着样品种类的不断增多（如: 低原子序数材料, 不导电材料等）, 需要扫描电子显微镜提供优异的低加速电压性能, 以获得高质量的真实表面图像。
Inspect F50 场发射扫描电子显微镜系统就是根据这一要求而设计的。它还提供了低加速电压的背散射电子图像, 薄样品的暗场/明场STEM（扫描透射）像。
Inspect F50 系统操作和维护方便, 同时可安装各种扫描电镜的附件（如: 能谱仪系统, 波谱仪系统, EBSD等等）。Inspect F50 是一款经典的场发射扫描电子显微镜。
技术参数：
1.灯丝: 超高亮度Schottky场发射灯丝；
2.分辨率：1.0 nm @ 30 kV, 3.0 nm @ 1 kV
减速模式 2.3nm @ 1kV, 3.1nm @ 200V （可选项）
背散射电子:2.5nm @ 30kV；
3.加速电压：200 V - 30 kV, 连续可调；
4.探测器：E-T二次电子探测器，可选背散射探测器；
5. 50x50mm 4轴马达驱动全对中样品台。
仪器参数
二次电子分辨率：0.8nm（15KV），1.6nm（1KV）；
背散射电子分辨率：2.0nm（15KV）；
放大倍数：12X~200,000X；
可分析元素：5(B)－92(U)；5(B)-11(Na)定性分析，定量存在误差；
检测项目
1.形貌分析，通过形貌像可以对样品的形貌、粒径、分散性进行表征，可用于金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织形貌像的观 察，同时还可对材料断口和失效进行分析
2.微区成分分析，通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析，可确定样品的组成
样品要求
结果示例
常见问题解答
问：不导电或导电差的样品，为什么要喷金？
答：SEM成像，是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号。如样品不导电或导电性不好，会造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走，一定程度后就反复出现充电放电现象（charging)，最终影响电子信号的传递，造成图像扭曲，变形、晃动等现象，喷金后样品表面导电增强，从而避免积电现象。
问：喷金后，对样品形貌是否有影响？
答：样品表面喷金后，只是在其表面覆盖了几个到十几个金原子层，厚度只有几个纳米到十几个纳米而已，对于看形貌来说，几乎是没有什么影响的。
问：一个样品会提供几张图片？
答：每样品提供6-8张左右，具体根据样品的拍摄情况而定。
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