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X-射线荧光光谱仪(XRF)

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X-射线荧光光谱仪(XRF)

  • 品 牌

    荷兰帕纳科

    型 号

    PW-2400

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        北京

      • 价 格

        300

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  • 详细介绍
仪器简介

仪器型号:

PW-2400


测量范围:

百分含量区间为0.01%~99.90%


测量精度:

参考相关检测标准,通常含量在0.01%~1.00%的RSD在5%,左右, 含量在1.00%~99.90%的RSD在1%,左右


检测特色:

固体测量,可以定量分析含量在0.01%~99.90%元素含量;可以进行贵金属无损检测分析,周期表中氧以后的元素能快速定性(半定量)和定量分析

样品要求
仪器简介

仪器型号:

PW-2400


测量范围:

百分含量区间为0.01%~99.90%


测量精度:

参考相关检测标准,通常含量在0.01%~1.00%的RSD在5%,左右, 含量在1.00%~99.90%的RSD在1%,左右


检测特色:

固体测量,可以定量分析含量在0.01%~99.90%元素含量;可以进行贵金属无损检测分析,周期表中氧以后的元素能快速定性(半定量)和定量分析

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