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高分辨透射电子显微镜

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高分辨透射电子显微镜

  • 品 牌

    JEOL

    型 号

    JEM-2010

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        北京

      • 价 格

        720

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  • 详细介绍
仪器简介

仪器型号:JEM-2010

性能参数:
高分辨透射电子显微镜(JEM-2010/JEOL)
加速电压,最高200kV;LaB6灯丝;配有底插CCD相机,单倾及双倾样品


测量范围:

TEM放大倍数:50x~1.5Mx
样品台倾角:轴倾角约±20°测量精度:点分辨率:0.19nm晶格分辨率:0.14nm


检测特色:
这是一台高分辨透射电镜,可以对各种无机材料进行微区形貌、结构研究,设备可采集高质量的衍衬像(明场像、暗场像)、选区(或微区)电子衍射图像及局域晶格像。


样品要求
仪器简介

仪器型号:JEM-2010

性能参数:
高分辨透射电子显微镜(JEM-2010/JEOL)
加速电压,最高200kV;LaB6灯丝;配有底插CCD相机,单倾及双倾样品


测量范围:

TEM放大倍数:50x~1.5Mx
样品台倾角:轴倾角约±20°测量精度:点分辨率:0.19nm晶格分辨率:0.14nm


检测特色:
这是一台高分辨透射电镜,可以对各种无机材料进行微区形貌、结构研究,设备可采集高质量的衍衬像(明场像、暗场像)、选区(或微区)电子衍射图像及局域晶格像。


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高分辨透射电子显微镜

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