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电子合同
场发射透射电子显微镜(TEM)
-
品 牌
FEI
型 号TECNAI G2 F20
-
模 式
-
选 项
- 地 址
北京
-
价 格
720
- 联系人：易科学客服
- 联系电话：400-086-3999 转 801
-
*联系我时请说明是在易科学看到的，谢谢！
- 详细介绍
仪器简介
仪器型号：
TECNAI G2 F20
检测特色：
这是一台分析型热场发射透射电镜，除了可进行常规明暗场像、高分辨像、
选区电子衍射操作外，还可以进行微区衍射、成分分析，采集样品高角环形暗场图像，设备还配有大面积电制冷能谱仪，
其能量分辨率及计数率较高，有利于进行元素的线扫描分析、面扫描分析。
仪器参数
加速电压，最高200kV；肖特基场发射电子枪；
配有底插CCD相机，探测器面试80mm2电制冷能谱，扫描透射（STEM）附件，高角环形暗场（HAADF）探测器，双倾加热样品杆和冷冻样品杆
测量范围：TEM放大倍数：最小25倍；最大 1,030,000倍
STEM放大倍数：150x - 230Mx
相机长度：最小≤ 30mm；最大≥ 4500mm
样品台倾角：倾斜角度：±40°；轴倾角：±30°
能谱可分析元素范围：B5-U92
测量精度：点分辨率：0.24nm
晶格分辨率：0.102nm
信息分辨率：0.14nm
最小束斑尺寸：透射模式优于2nm，微区分析模式优于0.5nm
样品要求
仪器简介
仪器型号：
TECNAI G2 F20
检测特色：
这是一台分析型热场发射透射电镜，除了可进行常规明暗场像、高分辨像、
选区电子衍射操作外，还可以进行微区衍射、成分分析，采集样品高角环形暗场图像，设备还配有大面积电制冷能谱仪，
其能量分辨率及计数率较高，有利于进行元素的线扫描分析、面扫描分析。
仪器参数
加速电压，最高200kV；肖特基场发射电子枪；
配有底插CCD相机，探测器面试80mm2电制冷能谱，扫描透射（STEM）附件，高角环形暗场（HAADF）探测器，双倾加热样品杆和冷冻样品杆
测量范围：TEM放大倍数：最小25倍；最大 1,030,000倍
STEM放大倍数：150x - 230Mx
相机长度：最小≤ 30mm；最大≥ 4500mm
样品台倾角：倾斜角度：±40°；轴倾角：±30°
能谱可分析元素范围：B5-U92
测量精度：点分辨率：0.24nm
晶格分辨率：0.102nm
信息分辨率：0.14nm
最小束斑尺寸：透射模式优于2nm，微区分析模式优于0.5nm
样品要求
1.可以现场实验，也可以寄样（按小时收费）；
2.磁性样品和非磁性样品均可进行测试；
3.粉末/液体样品，测试前需要自己制好样品；
4.需要制样——离子减薄、电解双喷、FIB制样、超薄切片，请在线联系我们。
结果实例
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