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X射线衍射仪 (XRD)

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X射线衍射仪 (XRD)

  • 品 牌

    德国布鲁克

    型 号

    D8 Advance

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        北京

      • 价 格

        160

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  • 详细介绍
仪器简介

仪器品牌及型号:
德国布鲁克 D8 ADVANCE


性能参数:
Cu靶陶瓷X光管;
LynxEye一维阵列探测器;
采用光学编码技术的θ/θ立式测角仪;
2θ范围:-10°-168°;
分辨率:0.0001° ;

额定输出功率3kW;

电流电压稳定度优于±0.005%;

高精度步径式马达控制双圆测角仪,测角仪半径≥200mm,2θ转动范围-10°~168°,可读最小步长0.0001°,角度重现性0.0001°;林格斯一维探测器,动态范围>1×109cps,背景<0.1cps

 

主要用途:

1. 物相定性分析(粉体、块体与薄膜等)

2. 物相定量分析

3. 精确测定点阵常数

4. 晶粒大小及晶格畸变测定

5. 颗粒大小及其分布测试

6. 薄膜厚度(<100nm)及粗糙度测试

7. 物质相变测定

 

 


样品要求
仪器简介

仪器品牌及型号:
德国布鲁克 D8 ADVANCE


性能参数:
Cu靶陶瓷X光管;
LynxEye一维阵列探测器;
采用光学编码技术的θ/θ立式测角仪;
2θ范围:-10°-168°;
分辨率:0.0001° ;

额定输出功率3kW;

电流电压稳定度优于±0.005%;

高精度步径式马达控制双圆测角仪,测角仪半径≥200mm,2θ转动范围-10°~168°,可读最小步长0.0001°,角度重现性0.0001°;林格斯一维探测器,动态范围>1×109cps,背景<0.1cps

 

主要用途:

1. 物相定性分析(粉体、块体与薄膜等)

2. 物相定量分析

3. 精确测定点阵常数

4. 晶粒大小及晶格畸变测定

5. 颗粒大小及其分布测试

6. 薄膜厚度(<100nm)及粗糙度测试

7. 物质相变测定

 

 


样品要求

可以测试粉末样品,样品的颗粒度要足够细(至少应该过400目筛子),且样品量不能太少(一般需要大于50立方毫米)。

薄膜样品和块体样品,测试面要求是平整的,一般尺寸要小于Φ28mm,厚度小于18mm。


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