X射线荧光光谱仪(XRF)
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品 牌
日本岛津
型 号XRF-1800
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模 式
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选 项
- 地 址
北京
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价 格
面议
- 联系人:易科学客服
- 联系电话:400-086-3999 转 801
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- 详细介绍
仪器简介
主要功能和用途:
该仪器主要用于电子,磁性材料,化工,石油,煤炭,陶瓷,水泥,钢铁,有色金属,地质,矿产等领域。分析元素范围:F(氟)~U(铀)
仪器参数
性能参数:
X 射线管: 4KW 薄窗Rh 靶端窗型
最大功率: 60KV 140mA
输出稳定度: ±0.005﹪
输出电压波动 +15﹪--10﹪
样品室: 8 个 样品旋转台,样品旋转60rpm X 射线照射样品上面
扫描速度:超高速扫描300°/min 可定性定量分析250um 微区分布分析
检测项目
可进行定性加半定量测量,测量范围从O到U间的所有元素,可用元素或氧化物形式表述,可进行粉末(150~200目间)和块状(直径35~40mm间)及薄膜测量。
样品要求
仪器简介
主要功能和用途:
该仪器主要用于电子,磁性材料,化工,石油,煤炭,陶瓷,水泥,钢铁,有色金属,地质,矿产等领域。分析元素范围:F(氟)~U(铀)
仪器参数
性能参数:
X 射线管: 4KW 薄窗Rh 靶端窗型
最大功率: 60KV 140mA
输出稳定度: ±0.005﹪
输出电压波动 +15﹪--10﹪
样品室: 8 个 样品旋转台,样品旋转60rpm X 射线照射样品上面
扫描速度:超高速扫描300°/min 可定性定量分析250um 微区分布分析
测试项目
可进行定性加半定量测量,测量范围从O到U间的所有元素,可用元素或氧化物形式表述,可进行粉末(150~200目间)和块状(直径35~40mm间)及薄膜测量。
样品要求
被测面尽量平整,减少光线散射。被测样品要做到尽量的均匀单一均质。