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扫描电镜及取向分析系统(SEM)

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扫描电镜及取向分析系统(SEM)

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仪器简介

仪器设备厂商及型号:
LEO-1450


性能参数:
1、 扫描电镜工作电压200V~30KV;
分辨率3.5nm;
5轴马达样品台,全计算机控制;
样品台移动范围:X:100mm;
Y:125mm;
Z:35mm,倾转对中;
二次电子像,背散射电子像 2、 能谱仪(KevexSuperDry)电制冷超薄窗口探头;
分辨率139eV(MnK2);
可分析元素范围B~U 3、 背散射取向分析系统EBSD(丹麦HKL Channel5),空间分辨率0.1m;
测定速度400个取向/秒


主要功能和用途:
能谱仪:可分析B、C、N、O等轻元素,进行点、线、面分析;
同时获取10个以上不同元素的成分信息(线、面分析时,用于成分分析)。 各种晶体材料的结构,取向的确定;
取向成像,取向差,转轴分布,取向极图;
反极图,ODF表示(用于结构与取向分析也是本仪器设备的特色)

仪器简介

仪器设备厂商及型号:
LEO-1450


性能参数:
1、 扫描电镜工作电压200V~30KV;
分辨率3.5nm;
5轴马达样品台,全计算机控制;
样品台移动范围:X:100mm;
Y:125mm;
Z:35mm,倾转对中;
二次电子像,背散射电子像 2、 能谱仪(KevexSuperDry)电制冷超薄窗口探头;
分辨率139eV(MnK2);
可分析元素范围B~U 3、 背散射取向分析系统EBSD(丹麦HKL Channel5),空间分辨率0.1m;
测定速度400个取向/秒


主要功能和用途:
能谱仪:可分析B、C、N、O等轻元素,进行点、线、面分析;
同时获取10个以上不同元素的成分信息(线、面分析时,用于成分分析)。 各种晶体材料的结构,取向的确定;
取向成像,取向差,转轴分布,取向极图;
反极图,ODF表示(用于结构与取向分析也是本仪器设备的特色)

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